邁克爾遜干涉儀，物理實驗干涉儀；概述
邁克爾遜干涉儀主要用于高等院校物理實驗中觀察光的干涉現象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋）、測定單色光波長、測定光源或濾光片相干長度、配法布里—珀羅系統觀察多光束干涉現象。附加適當裝置，還可以擴大實驗范圍（如測薄片厚度和折射率，空氣折射率等）。因此，它是一種用途很廣的驗證有關基礎理論的教學實驗儀器。
邁克爾遜干涉儀，物理實驗干涉儀
型號：DL07-WSM-100
一、概述
邁克爾遜干涉儀主要用于高等院校物理實驗中觀察光的干涉現象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋）、測定單色光波長、測定光源或濾光片相干長度、配法布里—珀羅系統觀察多光束干涉現象。附加適當裝置，還可以擴大實驗范圍（如測薄片厚度和折射率，空氣折射率等）。因此，它是一種用途很廣的驗證有關基礎理論的教學實驗儀器。
二、技術參數及性能：
移動鏡行程：100mm
微動手輪分度值：0.0001mm
波長測量精度：當條紋計數為100時，
測定單色光波長的相對 誤差＜2％
導軌直線性誤差：小于±16″
分光板，補償板平面度：λ/ 30
移動鏡，固定鏡平面度：λ/ 20
精密二維調整架螺距，配置高精度進口細牙螺紋副，170牙及螺距0.15mm。
主要部件組成：主機(包括水平拉桿和滑架)、分光鏡部件、移動鏡部件、投影屏
