X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片
品牌:美國calmetrics Ni/Cu型銅上鍍鎳標準片系列
calmetrics是美國原廠制作標準片的專業認證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產制作標準樣品。
應用:適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀(膜厚計)。
特色:X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片A2LA校正認證,質量精良,精度高、穩定性好;
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
所有X射線熒光測厚儀(膜厚儀)標準片都附有NIST認證證書我們可以根據客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的,并附有厚度值證書.
可制作厚度:0.5-25um
以下為常見性厚度:
CSNI40CU999 Ni/Cu 40u" (1.00um)
CSNI80CU999 Ni/Cu 80u" (2.00um)
CSNI100CU999 Ni/Cu 100u" (0.25um)
CSNI200CU999 Ni/Cu 200u" (5.00um)
CSNI400CU999 Ni/Cu 400u" (10.0um)
CSNI800CU999 Ni/Cu 800u" (20.0um
標準片每片厚度均通過美國國家標準與技術研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)鑒定機構認證(有證書),其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產制作標準樣品。
應用 | 底材 | 可制作范圍 |
Ag/Cu | 銅 | 20-2000uin |
Au/KVR | 可伐 | 1-300uin |
Au/Ni | 鎳 | 1-300uin |
Cd/Fe | 鐵 | 20-1200uin |
Cu/Fe | 鐵 | 20-1200uin |
Cr/Fe | 鐵 | 20-800uin |
Ni-P/Al | 鋁 | 20-800uin |
Ni-P/Cu | 銅 | 20-800uin |
Ni-P/Fe | 鐵 | 20-800uin |
Ni-P/KVR | 可伐 | 20-800uin |
Ni/Cu | 銅 | 20-1000uin |
Ni/Fe | 鐵 | 20-1200uin |
Ni/Kvr | 可伐 | 20-1000uin |
Pd/Ni | 鎳 | 5-250uin |
Rh/Ni | 鎳 | 4-200uin |
Sn/Cu | 銅 | 40-2500uin |
Zn/Fe | 鐵 | 20-1300uin |