低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀 型號:MCP-T370
四探針方案-一觸式高精度的各種材料的表面電阻率測量。
查找只需按下啟動按鈕，確認自動測量功能，可自動保持當前的測量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀
型號:MCP-T370
四探針方案-一觸式高精度的各種材料的表面電阻率測量。
查找只需按下啟動按鈕，確認自動測量功能，可自動保持當前的測量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準模式。檢查探頭校準片（另售），以確認Roresuta AX測試值的準確性。
測量數據可以導出到USB存儲器。
 規格 | |
| 測量方法 | 四端四探針法 施加恒定電流的方法 |
| 測量范圍 | 10 -2?10 6 Ω |
| 標準配置 | 四探針探頭（ASP）AC適配器 說明書 檢查確認書 |
| 選項 |
 探頭選項 | ||
| 類型 | 適用被測試樣品 | 型號 |
| ESP | 對于異類樣本 | MCP - TP08P |
| PSP | 小樣本的薄膜 | MCP - TP06P |
| QPP | 對于小樣本 | MCP - TPQPP |
| TFP | 有關硅晶片或玻璃基板薄膜 | MCP - TFP |
 校準塊 | 型號：MCP - TRF1 |
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