能量色散X射線熒光光譜儀EDX8800E（真空型）
產品特點
1. 采用的美國*SDD（SILICON DRIFT DETECTOR）硅漂移探測器，分辨率更高，大大提高了輕元素的檢出限，標準檢出限較SI-PIN探測器提高100倍；測量范圍更寬，基本涵蓋了各種常規材料元素分析要求；
2. 配置美國*數據集成處理系統，數據采集速度更快，測量更穩定，重復性和*穩定性更好；
3. 配置開發的測量軟件，集成多種圖形計算方法，測量數據更精準，更穩定；
4. 軟件全面監控儀器主要核心部件運行狀態，使用更安全；
5. 配置專門開發的真空系統，真空性能更好，測試效果更佳；
技術參數:
1. 元素分析范圍從鈉（Na）到鈾（U）
2..元素含量分析范圍為1ppm到99.99％
3. zui低檢出限：1ppm
4. 測量時間：60-200秒（可調）
5. 儀器工作電源：AC220±5V
6. 能量分辨率為129±5eV
7. X 射線光管zui大輸出電流：1mA
8. 極限壓力：6.7×10-2 Pa
9.樣品腔尺寸：610*320*100（mm）（不抽真空）/Φ100*h75（mm） （真空樣品腔）
10.多次測量重復性（以標準樣品為準）：±0.05％（高含量）/±0.002％（微量）
11.*工作穩定性（以標準樣品為準）±:0.06％ （高含量）/±0.0025％（微量）
