leeb251涂層測厚儀能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量。
leeb251涂層測厚儀技術參數:
測頭類型 | Leeb251 | |
測頭類型 | N1 | |
工作原理 | 電渦流 | |
測量范圍 | 0~1250μm | |
低限分辨率 | 1μm | |
示值誤差 | 一點校準 | ±(3%H+1) |
二點校準 | ±[(1~3%)H+1] | |
測試條件 | zui小曲率半徑mm | 凸1.5、凹9 |
zui小面積直徑mm | Φ7 | |
基本臨界厚度mm | 0.5 | |
工作環境 | 溫度 | 0~40℃ |
濕度 | 20%~90% | |
電源 | AAA型堿性電池1.5V四節 | |
外形尺寸 | 150×55.5×23mm(主機) | |
重量 | 120g | |
標準配置 | 主機、標準試片、基體、AAA型堿性電池 |
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