安捷倫8509B光波偏振分析儀 
安捷倫8509B光波偏振分析儀系統的*個系統是一個提供校準的偏振的光信號的測量和組件。這些新功能提供創新的硬件，軟件和數學。硬件的貢獻包括一個的四個二極管檢測方案，包括1200納米至1600納米。單波長，1300和1550 nm的法布里 - 珀羅激光器，以及一個自動的三態偏振發生器中所提供內安捷倫8509B。也可用于外部單波長或波長掃描來源。兩個自動偏振模色散（PMD）測量;瓊斯矩陣本征分析和掃描波長IME的狀態和偏振度的測量 
快速，自動測量的光學元件中的偏振相關損耗 

HP8509B光偏振分析儀 
AGILENT 8509B光波極化分析儀可對光信號或光器件進行校準過的極化測試。 這些功能是建立在硬件、軟件和算法革新性突破的基礎之上的.8509B可提供包括極化狀態測試、極化模式色散測試、極化相關損耗測試和極化保偏光纖對準等功能。 
特點： 
1.對光信號和光器件進行全面的極化狀態分析  
2.兩種PMD分析方法：波長掃描法和JONES矩陣法  
3.極化保偏光纖的對準 
  AGILENT 8509B光波極化分析儀可對光信號或光器件進行校準過的極化測試。 這些功能是建立在硬件、軟件和算法革新性突破的基礎之上的.8509B可提供包括極化狀態測試、極化模式色散測試、極化相關損耗測試和極化保偏光纖對準等功能。 

Agilent 8509C產品簡介 
    Agilent 8509C光偏振分析儀覆蓋L波段，可對光信號和元件進行寬工作范圍的測量。自動的測量步驟簡化了PMD、PDL和保偏光纖對準。對于10至40Gb/s測試，8509C可測量至0.01ps的偏振模式色散。對光信號和材料偏振特性的快速和精確的測量可幫助開發更高性能的光元件和系統，以及低成本的制造流程。 
    性能特性： 
    波長工作范圍： 1280 nm 至 1640 nm 
    分辨率： 1 fs 
    偏振狀態測量速率： >3500 ∕秒 
    PMD 測量范圍： 0.01 ps (10 fs) 至 400 ps (取決于設置條件) 

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