光學結構 | 反射 : d/8;SCI ( 鏡面光包含 )/SCE ( 鏡面光不包含 ) 可切換 ; d/8 光學結構符合 ISO 和 DIN 標準 ; d/0 之光學結構也符合 CIE 和 ASTM 標準 穿透 : d/0. |
偵測器 | 2 個 18 個組件硅光二極管數組 |
測量波長范圍 | 可見光從 360 到 740nm 每間隔 10nm |
精確度 | 反射率從 0 到 200% Resolution: 0.001% |
光源 | 脈沖氙弧燈 |
測量時間 | 0.6-0.8 秒 . ( 從開始測量到數據輸出 ) |
照明 / 測量 面積 | 反射 : 可更換 : LAV: ψ 28mm 照明 / ψ 25.4mm 測量 ; MAV: ψ 11mm 照明 / ψ 8mm 測量 ; SAV: 5x7mm 照明 / 3x5mm 測量 ; 穿透 : 大約ψ 20mm |
再現性 | 光譜反射率 : 標準偏差 ≦ 0.05% 色差值 : 標準偏差Δ E*ab ≦0.01 ( 測量條件 : 執行校正后測量校正白板 , 測 30 次每次間隔 10 秒 ) |
機臺交換性 (LAV) | Δ E*ab≦ 0.08基于 12 BCRA Series Ⅱ 色板測量值與標準機臺比較 |
溫度影響 | 光譜反射率 : ≦± 0.1%/ ℃ 色差值 : ≦Δ E*ab 0.05/ ℃ |
UV 調整 | 計算機控制 ; 連續調整 |
穿透測量之樣品 | 薄片 , 色板 , 或 液體 ( 裝在容器中 ) zui大厚度不超過 50mm |
通訊接口 | RS-232C |
電源 | AC 100V/120V/230V 50/60Hz |
操作溫度 / 濕度范圍 | 13 to 33 ℃ (53 to 48F); 低于 80% 相對濕度無冷凝 |
儲存溫度 / 濕度范圍 | 0to 40 ℃ (32 to 96F); 低于 80% 相對濕度無冷凝 |
體積 (W × H × D) | 271 × 259 × 500mm |
重量 | 18kg (39.7 lb.) |
標準配置 | 校正白板 CM-A90; 目標罩 (3x5mm)CM-A91 ; 目標罩 ( ψ 8mm)CM-A192; 目標罩 ( ψ 25.4mm)CM-A93; 零點校正盒 CM-A94; 變壓器 AC-A12; RS-232C 通訊線 CM-A52 |
可選 配置 | 穿透測色架 CM-A96, 石英槽 (2mm) CM-A97/ (10mm) CM-A98/ (20mm) CM-A99; 穿透零點校正板 CM-A100, RS-232C 通訊線 (IBM PC) CM-A53 CM-A55 / (NEC PC) CM-A56 |