泰克Tektronix DSA8300數字采樣示波器
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泰克Tektronix DSA8300數字采樣示波器
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DSA8300
| 模擬帶寬 | 采樣率 | 記錄長度 | 模擬通道 |
|---|---|---|---|
| 電接口 70 GHz，光接口 80 GHz | zui大 300 kS/s | 50 點 - 16,000 點（IConnect® 為 1M 點，80SJNB 為 10M 點） | 取決于使用的采樣模塊，zui多 8 個通道 |
DSA8300 數字采樣示波器
為挑戰性的高速檢定測試提供*秀的信號保真度
DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖動，可以實現異常準確的器件檢定，全面支持光通信標準、時域反射計和 S 參數。DSA8300 數字采樣示波器為 155 Mb/s 至 40 Gb/s 及更高速率的數據通信提供了完整的高速物理層測試平臺。
功能 | 優勢 |
電模塊信號測量準確度：
| <100 fs 本底抖動允許對高位速率（40 和 100 (4´25) Gb/s）設備進行檢定，典型 <5% 的信號單位間隔由測試儀器所使用。70 GHz 帶寬允許對高位速率信號進行完整檢定（數據速率 28 Gb/秒的 5 階諧波和數據速率 >45 Gb/秒的 3 階諧波）。 |
所有帶寬上系統噪聲業內zui低：
| zui大程度降低儀器在采集高位速率、低幅度信號時的噪聲量，避免可能帶來附加抖動和眼圖閉合的其他噪聲。 |
| 單臺主機內zui多 6 個通道同時采集 <100 fs 抖動。 | 多個差分通道的高保真采集可進行通道間損傷測試，提高多個高速串行通道系統的測試吞吐量。 |
| 光模塊支持從 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太網所有標準速率的光*性測試。 | 為單模和多模光標準提供經濟實惠、功能多樣的光測試系統，從 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s（SONET/SDH 和 40GBase 以太網）和 100 Gb/s 以太網（100GBase-SR4、-LR4 和 ER4），波長 850、1310 和 1550nm。 |
| 優異的采集吞吐量，采樣率zui高 300 kS/s。 | 通過優異的系統吞吐量，可將制造或設備檢定測試時間縮短 4 倍。 |
| 能夠將采樣器放到被測設備 (DUT) 的附近。 | 遠程采樣頭zui大程度降低因 DUT 至儀器之間的電纜和夾具造成的信號劣化，簡化測試系統的反嵌。 |
| 獨立的已校準通道相差校正。 | 雙通道模塊中具有集成的已校準通道相差校正，消除時滯，增強多通道測量的信號保真度。 |
