HY（IC）IC卡動態(tài)彎扭試驗機 |
技 術(shù) 參 數(shù) | 配 置 |
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準。 外形尺寸：L670 X W380 X H220 儀器重量：70kg 電 壓：AC220V±5% 功 率：35W 測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz 測試周期：1~9999次 扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm 正反向各15°，總扭曲角度30° 長邊Z大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm) 長邊Z小位移量為2mm±0.50mm， 短邊Z大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm) 長邊Z小位移量為1mm±0.50mm， 夾具安裝尺寸*按照國家標準執(zhí)行。
儀器加罩前的尺寸是： 長：74.5cm，寬：38cm 高：30cm 儀器加罩后的尺寸是： 長：78cm，寬：42.5cm 高：30cm | 1、 IC卡動態(tài)彎扭試驗機主機一臺； 2、配置： 1）常用調(diào)試工具一套： 2）中國臺灣STK交流調(diào)速電機系統(tǒng)一套； 3）中國臺灣衡翼高精度齒輪減速系統(tǒng)一套； 4）高精度光電計數(shù)器一套 4）中國臺灣衡翼高精度計數(shù)系統(tǒng)一套；
用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。 |
