泰克科技日前宣布，為其PCI Express®(PCIe)套裝測試解決方案提供一系列增強(qiáng)功能，支持16GT/s數(shù)據(jù)速率，為業(yè)內(nèi)提供*個支持PCIe4.0結(jié)構(gòu)的發(fā)射機(jī)和接收機(jī)自動測試解決方案。
　　　　PCIe4.0技術(shù)提高了數(shù)據(jù)速率，同時也帶來了許多全新的測試挑戰(zhàn)，如通道損耗大大提高，總抖動預(yù)算縮緊，鏈路培訓(xùn)和定時要求更加復(fù)雜。隨著設(shè)計裕量縮小，準(zhǔn)確的特定標(biāo)準(zhǔn)測量解決方案在調(diào)試、設(shè)計檢驗(yàn)和互操作能力測試中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。泰克PCIe4.0和3.0測試解決方案與DPO70000SX高性能示波器相結(jié)合，全面滿足了所有上述需求。
　　
　　“隨著各種重大行業(yè)規(guī)范不斷進(jìn)化，如PCIe，我們的測試測量工具也必須保持同步發(fā)展。”泰克科技公司高性能示波器總BrianReich說，“DPO70000SX示波器提供了*的準(zhǔn)確度和擴(kuò)充能力，與我們的PCIe解決方案增強(qiáng)功能相結(jié)合，使得廣大客戶能夠調(diào)試和檢驗(yàn)是否滿足PCIe版規(guī)范，同時縮短一致性測試時間，提升生產(chǎn)效率。”
　　
　　PCIe4.0發(fā)射機(jī)測試
　　
　　泰克為DPO/DPS70000SX和DPO/MSO70000DX高性能示波器開發(fā)的選項(xiàng)PCE4提供了PCIe4.0基本規(guī)范的新型發(fā)射機(jī)(Tx)測量，包括100MHz基準(zhǔn)時鐘，其實(shí)現(xiàn)了皮秒級抖動要求，適用于所有四代PCIExpress規(guī)范，即2.5、5.0、8.0和16.0GT/s。其他增強(qiáng)功能有：支持U.2外形(原SFF-8639)；新增優(yōu)化功能，把整體測試時間縮短了大約30%。同樣這些功能還作為泰克為PCIExpress3.0技術(shù)提供的解決方案——選項(xiàng)PCE3的增強(qiáng)功能提供。
　　
　　PCIe4.0接收機(jī)測試
　　
　　泰克現(xiàn)在支持PCIe4.0和PCIe3.1a基本規(guī)范接收機(jī)測試。通過這些解決方案，泰克BERTScope誤碼率測試儀和泰克高性能實(shí)時示波器自動校準(zhǔn)壓力眼圖張開，測試接收機(jī)合規(guī)性和抖動容限。這些解決方案采用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)方法，由泰克與合作伙伴GraniteRiverLabs共同提供，擁有簡單的用戶界面，自動執(zhí)行PCIe測試，明顯縮短設(shè)備校準(zhǔn)時間。這些解決方案還支持循環(huán)通過各種定時和電壓參數(shù)，采用用戶定義的量程，創(chuàng)建二維結(jié)果圖。
　　
　　行業(yè)驗(yàn)證
　　
　　PCI Express基本規(guī)范修訂版4.0第0.7版相當(dāng)復(fù)雜，內(nèi)容有1,000多頁，測試工程師迅速上手面臨著*的挑戰(zhàn)。泰克與行業(yè)機(jī)構(gòu)密切合作，如PCI-SIG®，幫助把行業(yè)規(guī)范測試要求轉(zhuǎn)換成簡便易用的交鑰匙式測試解決方案，提供清楚簡明的特性分析報告。
　　
　　DPO70000SX滿足第四代性能要求
　　
　　為滿足迅速發(fā)展的云計算和存儲市場需求，工程團(tuán)隊(duì)正面向下一代串行標(biāo)準(zhǔn)做好準(zhǔn)備，他們需要一個測量平臺，為PCIe4.0和其他標(biāo)準(zhǔn)中使用的高數(shù)據(jù)速率信令方案提供高度準(zhǔn)確一致的測量。作為泰克的示波器家族，與前幾代示波器相比，DPO70000SX為第四代串行總線提供了大量的優(yōu)勢，包括：
　　
　　高帶寬、低噪聲ATI通道，提供了*信號保真度和zui寬的測量裕量
　　
　　靈活的結(jié)構(gòu)，并留有發(fā)展空間，可以在客戶站點(diǎn)配置儀器，帶寬從23GHz到70GHz，并使停機(jī)時間達(dá)到zui小
　　
　　業(yè)內(nèi)*的觸發(fā)功能，25GHz邊沿觸發(fā)帶寬，簡便地捕獲zui快的信號
　　
　　高性能時基，在當(dāng)今zui快速的標(biāo)準(zhǔn)上提供異常準(zhǔn)確的定時和抖動測量
　　
　　集成計數(shù)器/定時器，實(shí)現(xiàn)高精度定時測量，檢定設(shè)計，調(diào)試問題