11月，2018 - 哈佛太空飛行中心，哈勃望遠鏡運營的所在地，即將上映的詹姆斯韋伯望遠鏡 - 以及全國大的航天器和太陽系研究科學家和工程師組織，已選擇鮑曼作為XRF薄膜測量的選供應商技術。
選擇的Bowman XRF測量系統是Model P，這是一種能夠測量極其廣泛的樣本大小和形狀的系統。 在Goddard，Model P將分析印刷電路板上的ENIG，ENEPIG和合金。
戈達德工程師擁有廣泛的設計和制造敏感儀器的能力; 導致購買的主要因素之一是Bowman的IPC 4552A能力以及儀器通過金層為PCB測定化學鍍鎳中磷成分的能力。 P型同時測量5涂層; 除了電鍍厚度測量，它還執行元素和溶液分析
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