導(dǎo)讀：美國俄亥俄州克利夫蘭，2011年7月20日訊—吉時(shí)利儀器公司（NYSE：KEI），作為*電子測試儀器和系統(tǒng)的制造商，今日宣布，R&D雜志的編輯們第22次向該公司頒發(fā)R&D100大獎(jiǎng)——這次是授予2010年推出的Model4225－PMU超快速I－V模塊。R&D雜志的編輯每年向創(chuàng)新性的100項(xiàng)技術(shù)頒發(fā)該大獎(jiǎng)。
　　
　　美國俄亥俄州克利夫蘭，2011年7月20日訊—吉時(shí)利儀器公司（NYSE：KEI），作為*電子測試儀器和系統(tǒng)的制造商，今日宣布，R&D雜志的編輯們第22次向該公司頒發(fā)R&D100大獎(jiǎng)——這次是授予2010年推出的Model4225－PMU超快速I－V模塊R&D雜志的編輯每年向創(chuàng)新性的100項(xiàng)技術(shù)頒發(fā)該大獎(jiǎng)。
　　
　　4225型－PMU模塊與吉時(shí)利的4200型－SCS半導(dǎo)體特性測試系統(tǒng)一起使用。該模塊的革新在于它能夠在單臺測試儀器中為工程師們集成了超快速的的電壓波形發(fā)生能力以及電路/電壓測量能力。此前，人們需要同時(shí)使用若干臺獨(dú)立的儀器才能獲得此類能力，對于工程師而言，這一配置方式不僅成本高昂而且耗時(shí)很長。
　　
　　4225型－PMU的開發(fā)團(tuán)隊(duì)成員之一LeeStauffer指出，開發(fā)該儀器必須實(shí)現(xiàn)的創(chuàng)新性工作對公司來說是一項(xiàng)重大挑戰(zhàn)。“我們珍視在過去的歲月中所贏得的各次R&D100大獎(jiǎng)，但看到這項(xiàng)特別的產(chǎn)品得到R&D的編輯們的認(rèn)可卻給予我們格外的滿足感，因?yàn)樗転槲覀兊目蛻籼峁┮环N完整的解決方案，從而能詳盡地獲取器件、材料或者工藝的特性。4225型－PMU可以讓4200－SCS型執(zhí)行的DCI－V測量（通過使用4200型－SCS的SMU）、AC阻抗測量（通過使用4210型－CVUC－V儀器）和超快速的I－V或者瞬態(tài)I－V測量（使用4225型－PMU）。將3種型號的儀器全部集成到一臺成本經(jīng)濟(jì)、機(jī)柜化的系統(tǒng)中，就可以讓研究者避免自己進(jìn)行系統(tǒng)集成所造成的時(shí)間延遲，讓他們能更快地開展測試。”
　　
　　安裝4225型－PMU后，4200－SCS型系統(tǒng)就可以在電壓、電流以及上升/下降/脈沖時(shí)間方面提供業(yè)界zui寬的動(dòng)態(tài)范圍；它還可以極大地?cái)U(kuò)展該系統(tǒng)在材料、器件和工藝特性的測量方面的潛力。同樣重要的是，4225型－PMU可以像進(jìn)行DC測量一樣簡便地完成超快速的電流－電壓信號源輸出和測量。其寬闊的、可編程設(shè)定的信號源輸出與測量范圍、脈沖寬度和上升時(shí)間，意味著它是同時(shí)要求超快速的電壓輸出和同步化的測量的各類應(yīng)用的理想選擇，涵蓋了從納米CMOS到閃存器的各種應(yīng)用