蔡司掃描電鏡輕松實現關聯定位、自動成像和量化分析
在使用掃描電鏡的過程中，您是否總是遭遇如下問題：
1. 在不同設備間切換樣品時總需耗費大量時間重新定位感興趣區域
2. 總是為獲取大面積高分辨圖像而苦惱，需要頻繁切換成像參數，調整像散聚焦
3. 得到圖像后又在為圖像的量化分析而發愁
針對以上的困擾和需求，蔡司對掃描電鏡特別推出智能電鏡解決方案，解決以上提到的所有問題，確保您日常檢測和分析工作的順暢與高效。
01 關聯定位分析
蔡司Connect模塊輕松實現光學顯微鏡到掃描電鏡的橋接，快速實現樣品在不同設備間的重新定位，還能統一管理關聯設備的數據和信息
? 關聯定位：通過關聯樣品臺實現樣品在不同顯微鏡設備之間自動關聯重定位，大幅縮減操作用時
? 數據疊加：自由疊加來自手機，光學顯微鏡，掃描電鏡的信息以及相關能譜信息
? 統一管理：管理來自不同關聯設備的數據，輸出不同信息疊加圖像和視頻
▲ PCB電路板的關聯顯微分析（光鏡，電鏡，能譜信息），左：宏觀圖像；右：感興趣位置局部放大
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BT高清正常▲芯片關聯顯微分析視頻（光鏡，共聚焦，電鏡）
02 自動成像
蔡司SmartSEM Touch定制軟件，全面兼顧參數設置，成像，自動化拼圖，圖像瀏覽，實現智能高效的掃描電鏡成像
? 向導式操作流程，界面簡潔，操作簡單
? 根據樣品智能匹配成像參數，實現自動聚焦
? 簡單操作即可完成高通量圖像拍攝和拼接
▲簡潔的SmartSEM Touch操作界面
03 量化分析
蔡司ZEN模塊實現從電鏡圖像獲取，圖像處理，圖像分割，自動測量到報告生成的整個量化分析流程
? 一鍵獲取掃描電鏡圖像，向導式的分析工作流程，毫無經驗的新手也可輕松掌握
? 基于機器學習的ZEN Intellesis模塊輕松實現傳統閾值方法難以達成的圖像處理需求
? 豐富的測量功能，如顆粒統計分析，孔隙率，含量百分比，層厚測量，晶粒度評級等
▲量化分析界面-二值化分割
▲金屬焊接位置孔隙大小分析及含量分析
▲滿足多種測量需求——高級測量 ▲顆粒分析 ▲晶粒度評級
▲含量百分比 ▲層厚測量 ▲孔隙率分析
