一、介紹
制備用于制藥工業的純對映體是強制性安全要求的一部分。圓二色譜法是一種測定對映體純度的技術，可直接用于固體樣品。
多年來，當樣品被證明不溶或在更換介質時顯示出結構變化時，固體樣品的圓二色性測量一直使用顆粒法進行。顆粒的制備并不簡單，也很耗時。使用積分球測量漫反射圓二色附件在MOS-500圓二色光譜儀上幾分鐘即可完成，是顆粒法的替代方案。本申請說明說明了使用漫反射圓二色附件測定制劑（L和D形式的粉末混合物）的對映體純度。
二、漫反射圓二色附件測試原理
積分球直接安裝在MOS-500圓二色光譜儀光學臺的出口處，因此入射光直接照射固體樣品。探測器安裝在90°的位置，使用擴散擋板保護樣品免受直接反射。積分球的內涂層經過精心選擇，以提供從遠紫外到近紅外區域的反射。探測器連續收集漫反射，因此MOS-500圓二色光譜儀可以根據用戶要求生成漫反射圓二色譜和漫反射線二色譜。
使用漫反射線性二向色譜作為質量測量，以檢查樣品架和積分球的石英窗是否存在可能扭曲漫反射圓二色譜信號的偏振效應。
三、實驗條件
所有光譜均在200 nm至300 nm范圍內記錄，且無需使用氮氣清洗光學元件，因此在該配置中運行成本。使用0.25 nm的數據間隔和4 nm的帶寬測量光譜。對每個粉末樣品進行單一光譜分析，以下僅顯示原始數據（無平滑）。
純D-和L-粉末從Sigma Aldrich獲得，用于參考和制備不同的對映體混合物。
所有粉末均使用研缽和杵研磨，以獲得薄而均勻的粉末。然后將粉末包裝在固體樣品架中。
四、純對映體圓二色和線二色譜
首先測量純對映體的圓二色光譜，以檢查樣品制備的質量和測量的圓二色譜信號的完整性。L-和D-的光譜如圖2所示。
圖2：L-（藍線）和D-（紅線）的圓二色光譜
這兩個光譜是符合理論預期的鏡像。峰值在214 nm處測得，mdeg振幅為±31.8。
在樣品不變的情況下，還記錄漫反射線二色光譜，以檢查線性二色性水平，如圖3所示。
圖3：L-（藍線）和D-（紅線）的漫反射線二色光譜
漫反射線二色的信號強度中，L-的低于0.0008 △A，D-的低于0.0005 △A，這樣的強度對CD測量幾乎沒有影響。與其他制造商報告的值相比，我們設計的儀器更好，線二色效應對比其他機器小4-5倍。
五、已知比例樣品圓二色和線二色譜
用D-和L-的不同混合物制備兩種粉末。樣品A通過混合50%的L-和50%的D-制備。將75%的L-與25%的D-混合制備樣品B。粉末在研磨前充分混合。
圓二色光譜如圖4所示。樣品A是一種外消旋混合物，不顯示圓二色譜信號。兩種對映體以相反的方式作用（圖2所示的鏡像效應），對圓二色光譜的貢獻相等。樣品B顯示了L-的主要貢獻，CD信號為15.9 mdeg。該值與純對映體振幅測量得到的理論值一致。
圖4：純L-（藍線）和消旋混合物A（紅線）和樣品B（黑線）的圓二色光譜
六、未知樣品
采用相同的方法制備L-和D-成分未知的樣品C。樣品C的圓二色光譜如圖5所示。
圖5：純L-（藍線）和未知混合物C（紅線）的圓二色光譜
樣品C的圓二色光譜信號為28.1 mdeg。該圓二色光譜對應于94.2%的L-和5.8%的D-的混合物。
七、結論
MOS-500圓二色光譜儀的漫反射圓二色附件為測定某些固體樣品的對映體比例提供了可能性。它顯示了偏振影響可忽略和樣品制備可靠性。本應用還顯示了漫反射圓二色附件直至200 nm測試的性能，無需用氮氣吹掃光學元件。
