IC高頻近場掃描儀可以在電子組件的集成電路上方，借助ICR-近場微探頭對頻率在6GHz以內的高頻磁場或電場進行高分辨率（50-100µm）測量。使用近場探頭和帶有SH01探頭支架的場源使用ICR-探頭（旋轉單元）工作狀態下對集成電路的采樣四軸定位系統。
國際標準分類中，近場掃描儀涉及到物理學、化學、牙科、醫療設備、IT終端和其他外圍設備、紡織纖維、文獻成像象技術、光電子學、激光設備、聲學和聲學測量、建筑構件、建筑材料、信息技術應用、詞匯、計量學和測量綜合、實驗室醫學、字符集和信息編碼、攝影技術、電學、磁學、電和磁的測量、移動業務、光學和光學測量、音頻、視頻和視聽工程、印制技術、計算機圖形技術、接口和互連設備、信息學、出版。
在中國標準分類中，IC高頻近場掃描儀涉及到人工晶體、口腔科器械、設備與材料、醫療器械綜合、計算機外圍設備、基礎標準與通用方法、圖書館、檔案、文獻與情報工作、激光器件、、醫用超聲、激光、高頻儀器設備、普通診察器械、金融、保險、數據媒體、超聲波與聲放射探傷儀器、電子光學與其他物理光學儀器、辦公用品及辦公機具、通信網設備互通技術要求和通信網接口、編碼、字符集、字符識別、醫用化驗設備、信息處理技術綜合、數據通信、聲學計量、制片設備、醫用射線設備、電磁計量、物理污染分析測試方法、電影與攝影技術、縮微復印機械、計算機圖形、軟件工程、視頻、脈沖系統設備、印刷技術、基礎標準與通用方法、系統設備接口。
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