詳細摘要: 平面平晶是以光波干涉原理為基礎,利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度
產品型號:所在地:南京市更新時間:2025-07-20 在線留言
南京蘇量檢測儀器設備有限公司
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