介紹熒光光譜儀測量的基本原理
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熒光光譜儀測量的基本原理
熒光光譜儀是一種快速、無損、多元素同時測定的分析技術，已廣泛應用于材料、冶金、地質、生物醫學、環境監測、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業生產等諸多領域，可為相關生產企業提供一種可行的、低成本的、及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。本文就熒光光譜儀的工作原理及其應用做簡單闡述。
熒光光譜儀的基本原理：
當一束高能粒子與原子相互作用時，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結合能，將該軌道電子逐出，對應的形成一個空穴，使原子處于激發狀態。此后在很短時間內，由于激發態不穩定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復到平衡態，以降低原子能級。當較外層的電子躍遷（符合量子力學理論）至內層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出，便產生了熒光。熒光的能量與入射的能量無關，它只等于原子兩能級之間的能量差。由于能量差由該元素原子的殼層電子能級決定，故稱之為該元素的特征射線，也稱熒光x射線或x熒光。
熒光光譜法就是由x射線光管發生的一次x射線激發樣品，試樣可以被激發出各種波長的特征x射線熒光，需要把混合的x射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的x射線的強度，以進行定性和定量分析的方法。該方法是一種非破壞性的儀器
熒光光譜儀分析方法，常用的有能量色散型和波長色散型兩種類型。廣泛應用于鋼鐵、鐵礦石、爐渣、石灰石、螢石、耐火材料、地質等行業的多種元素的測定。
