當前位置:西安順智電子科技有限公司>>顯微鏡>>測量顯微鏡>> 太原重慶15J測量顯微鏡
一、15J測量顯微鏡主要用途和特點
測量顯微鏡是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,操作方便,適用范圍極
廣,主要用途如下:
1、直角座標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽
寬度,狹縫寬度,通孔圓直徑等等。
2、轉動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規,鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件 進行角度測量。
3、用作觀察顯微鏡,以比較檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印 刷照相制版,檢驗紡織纖維等.
二、15J測量顯微鏡主要技術參數
1、x軸移動測量范圍: 50毫米
2、y軸移動測量范圍: 13毫米
3、測微器分度值: 0.01毫米
4、測量臺轉動范圍: 不限
5、測量臺刻度盤分度范圍: 0° - 360°
6、測量臺刻度盤之分度值: 1°
7、測量臺刻度盤游標讀數示值: 6'
8、照明方式:反射光(自然光)
9、測量精度:儀器值誤差(5+L/15)微米
10、儀器示值誤差:包括測量誤差與儀器系統誤差。
11、儀器之主要尺寸: 測量臺與物鏡間之大距離:80毫米
12、測量工作臺直徑: 120毫米
13、儀器外形尺寸: 高325*長262*寬220毫米
14、儀器重量級: 約10.6公斤
15、測量顯微鏡目鏡管同棱鏡成為一體繞垂軸旋轉,顯微鏡可由調焦手輪進行上下調焦
注:測量地點溫度變化(20 ± 3)C;L—被測件長度(毫米)
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