高低溫沖擊試驗箱/環(huán)境實驗箱此類實驗室均采用業(yè)界優(yōu)先的溫度平衡技術(shù)（制冷不加熱），通過能量調(diào)節(jié)技術(shù)在降溫及低溫平衡時不需要另外啟動加熱來平衡控溫。能量調(diào)節(jié)技術(shù)即PID控制調(diào)節(jié)制冷劑流量，通過調(diào)節(jié)控制單位時間內(nèi)進入蒸發(fā)器制冷劑的質(zhì)量，來達到精確控制制冷功率，從而精確控制試驗室的溫度。

詳細介紹

高低溫沖擊試驗箱/環(huán)境實驗箱風(fēng)道系統(tǒng)

1.為保證較高的均勻度指標(biāo)，試驗箱設(shè)有內(nèi)部循環(huán)送風(fēng)系統(tǒng)及風(fēng)道。工作室一端的風(fēng)道夾層內(nèi)，分布加熱器、制冷蒸發(fā)器、除蒸發(fā)器、風(fēng)葉等裝置。采用多臺風(fēng)機使箱內(nèi)空氣循環(huán)，當(dāng)風(fēng)機運行時，將工作室中空氣從下部吸入風(fēng)道內(nèi)，經(jīng)加熱/制冷、從均勻地吹出，在工作室中與試品交換后的空氣再被吸入風(fēng)道內(nèi)，反復(fù)循環(huán)，從而達到溫度設(shè)定要求。

高低溫沖擊試驗箱/環(huán)境實驗箱制冷系統(tǒng)

1.系統(tǒng)理念：此類實驗室均采用業(yè)界優(yōu)先的溫度平衡技術(shù)（制冷不加熱），通過能量調(diào)節(jié)技術(shù)在降溫及低溫平衡時不需要另外啟動加熱來平衡控溫。能量調(diào)節(jié)技術(shù)即PID控制調(diào)節(jié)制冷劑流量，通過調(diào)節(jié)控制單位時間內(nèi)進入蒸發(fā)器制冷劑的質(zhì)量，來達到精確控制制冷功率，從而精確控制試驗室的溫度。
2.相對以前“平衡控溫方式”即邊加熱邊制冷的方法，能耗非常大。而運用此技術(shù)可在zui大限度上降低客戶的運營成本和延長壓縮機的壽命，可在產(chǎn)品壽命周期內(nèi)可為用戶節(jié)約一筆不小的電費開支（因客戶實際使用頻率高低而已）
3.制冷硬件:采用“泰康”全封閉壓縮機組成制冷循環(huán)系統(tǒng)。
4.制冷劑：采用環(huán)保制冷劑R404a，R23。
5.制冷蒸發(fā)器：采用波紋翅片制冷蒸發(fā)器，位于試驗箱一端的風(fēng)道夾層內(nèi)，由鼓風(fēng)電機強制通風(fēng)，快速換熱。
6.輔助件:本試驗箱制冷系統(tǒng)中其他輔助件，如電磁閥、過濾器等我公司也采用進口件；如采用意大利CAS的電磁閥、旁通閥、截止閥等，其它配件也均選用國內(nèi)品牌的制冷配件。
7.低溫管路：低溫管路采用優(yōu)質(zhì)無氧銅管、充氮焊接（傳統(tǒng)方式采用普通銅管，直接焊接方式，易使銅管內(nèi)壁產(chǎn)生氧化物，造成制冷系統(tǒng)堵塞，使試驗箱不降溫或降溫慢）
8.在制冷系統(tǒng)底部設(shè)有凝結(jié)水接水盤，并排出箱外。
9.減振：采用壓縮機膠墊或彈簧減振措施；制冷系統(tǒng)管路采用增加R和彎頭的方式避免因振動和溫度的變化引起的銅管的變型，從而造成制冷系統(tǒng)管路破裂。
10.降噪：采用波浪狀的特種消音海綿吸音。

系統(tǒng)介紹

本系列環(huán)境實驗箱可為用戶檢驗、檢測電子電工元器件、零配件或相關(guān)行業(yè)的實驗部門提供一個模擬環(huán)境，為測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和*性（可重復(fù)）提供*條件。該產(chǎn)品具有簡單的操作性能和可靠的設(shè)備性能，*便捷操作的計測裝置，溫度控制器，采用*的中文液晶顯示畫面觸摸屏，可進行各種復(fù)雜的程序設(shè)定，程序設(shè)定采用對話方式，操作簡單、迅速。可實現(xiàn)制冷機自動運轉(zhuǎn)，zui大程度上實現(xiàn)自動化，減輕操作人員工作時間，可在任意時間自動啟動、停止、工作運行，各系統(tǒng)工作（風(fēng)機，制冷去濕，加熱）由觸摸屏人機界面集中控制。整體在客戶方進行裝配，運輸擺放方便，并在客戶方進行現(xiàn)場調(diào)試和驗收，保證在客戶方的使用性能；結(jié)構(gòu)一體化程度高，在客戶端裝配調(diào)試時間短；科學(xué)的空氣流通設(shè)計，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角；完備的安全保護裝置，避免了任何可能發(fā)生的安全隱患，保證設(shè)備的*可靠性；每個產(chǎn)品都根據(jù)客戶的要求訂做，保證了設(shè)備的高效，節(jié)能。

本試驗箱符合GB/T2423.1 低溫試驗方法、GB/T2423.2高溫試驗方法。GJB150.5-86溫度沖擊試驗法、GJB360A-96電子及電氣元件試驗方法。
GJB 150.3高溫試驗；GJB 150.4 低溫試驗；
GB10588-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件；
GB10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件；
GB/T10592高低溫試驗箱技術(shù)條件；
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標(biāo)準(zhǔn)中所要求的試驗