日立XRF測厚儀

XRF鍍層測厚和材料分析儀，能為電鍍及表面處理行業(yè)進行快速的質(zhì)量控制和驗證測試，可以在幾秒內(nèi)就可以獲取準確的數(shù)據(jù)。鍍層測厚儀強大功能使其成為實驗室的理想選擇：有著安排緊湊的工作流程，但精度、多功能性和效率是維持此工作流程正常運轉(zhuǎn)的*要素。

一、產(chǎn)品介紹：

    鍍層測厚儀旨在應(yīng)對超薄鍍層的挑戰(zhàn)，例如當今不斷縮小的電子元器件的鍍層。其提供快速、準確和可重復的結(jié)果，有校提高生產(chǎn)力，同時減少PCB、半導體和微型接口等元器件上鍍層不合規(guī)所帶來的成本浪費。FT160系列鍍層測厚儀易于使用、可輕松集成質(zhì)量保證/質(zhì)量控制流程，在問題引發(fā)危機之前及時發(fā)出提醒。

    FT160系列鍍層測厚儀采用了新款高分辨率樣品觀察相機和改進的照明，樣品的預覽和測量點的選擇變得更加清晰和簡便。

二、特點：

1、高性能XRF鍍層測厚儀，適用于超小部件上的超薄鍍層分析；

2、使用多毛細管光學聚焦系統(tǒng)，光斑尺寸<50um；

3、數(shù)秒間測試納米級鍍層厚度；

4、簡單易用的操作軟件；

5、強大的數(shù)據(jù)處理能力

三、適用的厚度范圍：

四、XRF結(jié)構(gòu)：