進口x射線膜厚儀是ficsher公司主打的一款用于解決電鍍鍍層厚度測量的產品，作為表面測試領域的全面服務供應商，Fischer自1953年以來一直致力于開發無損材料分析、涂層厚度測量和材料測試的儀器。我們為不同的行業提供廣泛的測量設備：從簡單的手持式設備在移動中進行快速測試，到*集成的系統，自動監控您的生產。
進口x射線膜厚儀
作為表面測試領域的全面的服務供應商，Fischer自1953年以來一直致力于開發無損材料分析、涂層厚度測量和材料測試的儀器。我們為不同的行業提供廣泛的測量設備：從簡單的手持式設備在移動中進行快速測試，到集成的自動測量系統。
在過去，X射線熒光分析(XRF)主要用于地質學。如今，它已成為工業和實驗室的關鍵技術。這種方法非常通用：它可以檢測從鈉到鈾的所有相關化學元素
XRF通常用于材料分析，即確定樣品中給定物質的含量，如測量珠寶中的黃金含量或根據《有害物質限制》(RoHS)指令檢測日常物品中的有害物質。此外，可以使用XRF測量鍍層的厚度：它快速、環保且無損。
所以在電鍍鍍層測試中，XRF儀器得到了廣泛的推廣，所以現在電鍍及表面處理行業里，用XRF儀器測量電鍍層的厚度也是一種質量控制不K多得的幫手。
在無損無接觸的涂層厚度測量和材料分析領域，FISCHERSCOPE X射線儀器是理想的選擇。自1983年以來，我們的X射線儀器已成為幾乎所有主要行業質量測試的一個組成部分。我們的儀器以其精確性、準確性和耐用性而聞名。同時，FISCHERSCOPE X射線的設計易于使用，并在測量的各個方面為您提供支持。 這使您可以專注于手頭上的質量工作，而不是測量儀器上。
我們的X射線儀器配有的FischerWinFTM軟件，旨在規范測量過程。這包括控制X射線、實現測量的可追溯性、生成個性化測量報告以及與內部網絡交互。
我們種類齊全的X射線設計用于高可靠性地測量不同的應用。*電子、電鍍、汽車、黃金和珠寶等領域的公司以及更多的公司都依賴于FISCHERSCOPE X射線儀器進行質量控制。現在就來看看我們的X光儀器并找出原因吧！
進口x射線膜厚儀優點:
1.德國設計：技術先進
2.一個軟件實現鍍層厚度測量和材料分析兩個功能
3.擴展統計功能。例如，測量結果可以記錄并轉為SPC圖表顯示
4.圖像識別：WinFTM可以自行查找預設的測量位置
5.基于基本參數分析的無標準片測量：在手邊樣本組成未知的情況下實現精確的測量結果
6.距離控制測量(DCM)：無需移動軸即可保持與不規則形狀樣品的正確測量距離。只需將攝像頭聚焦到樣品表面即可。剩下的由WinFTM軟件完成。這要比移動軸快。此外，沒有軸與樣品碰撞的風險
7.測量質量：我們的儀器可以判斷您的測量質量。錯誤地選擇了錯誤的測量任務或測量了錯誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會提醒您
8.任務程式：只需單擊一下，幾乎可以對WinFTM軟件中執行的所有操作進行編程并執行。例如，一項任務可以自動測量多個合金樣品。 X射線儀器將XY工作臺移動到樣品位置，加載每個合金特定的測量條件，最后根據您的需要生成測試報告
特點:
根據DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度
XULM的最小測量點約0.1 mm；XUL最小測量點約0.5 mm
鎢X射線管或鎢微聚焦管(XULM)作為X射線源
采用經實踐驗證的短測量時間的比例接收器
準直器：固定或4個自動切換 初級過濾器：
固定或3個自動切換 固定樣品臺或手動XY載物臺
用于光學觀察測量點的攝像頭
經認證的全面防護設計；
應用:
電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產的零件(螺母和螺栓)的腐蝕防護
電鍍液中金屬含量的分析 裝飾性涂層
Cr/Ni/Cu/ABS >電子行業連接器和觸點上的鍍層
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