天瑞金屬膜厚儀

膜厚儀也叫X射線測厚儀，它的原理是物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

天瑞金屬膜厚儀采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號

天瑞金屬膜厚儀優勢：

全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動自檢、復位； 
開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣； 
關蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦； 
直接點擊全景或局部景圖像選取測試點； 
點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示結果。