蘇州賽恩斯儀器有限公司
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量程zui大6,200 g
分辨率zui大0.1 mg
自動內校
較大稱量平臺
Sartorius賽多利斯M-Pact精密|分析天平
M-class天平是專為實驗室和學校初次使用天平的用戶而設計。各種型號，從用于自然科學研究的便攜式精密天平，到自動校準的高精度分析天平，
賽多利斯
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