綜合環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)主要?dú)夂蛳浜驼駝?dòng)試驗(yàn)臺(tái)的綜合，對(duì)試件施加溫度、濕度、振動(dòng)應(yīng)力進(jìn)行綜合環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)。與單一因素作用相比，更真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過程中對(duì)環(huán)境變化的適應(yīng)度，產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制，樣機(jī)試驗(yàn)到產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過程的重要試驗(yàn)手段。系統(tǒng)能夠產(chǎn)生溫度、濕度、振動(dòng)的綜合環(huán)境，也可以產(chǎn)生單獨(dú)的溫度、濕度振動(dòng)等環(huán)境。
東莞艾思荔檢測儀器有限公司專業(yè)生產(chǎn)恒溫恒濕試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、PCT老化箱。：鐘S
【三綜合試驗(yàn)箱儀器簡介】
三綜合試驗(yàn)箱又稱：溫濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱，三綜合試驗(yàn)機(jī)，復(fù)合式環(huán)境試驗(yàn)箱，同時(shí)結(jié)合了溫度、濕度以及振動(dòng)的檢測條件，適用于航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧跍囟取穸取⒄駝?dòng)環(huán)境下檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)。
東莞艾思荔是三綜合試驗(yàn)箱/溫濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱環(huán)測設(shè)備的，技術(shù)水準(zhǔn)已*進(jìn)口產(chǎn)品，秉持[品質(zhì)至上，服務(wù)至上；邀您參與，共享共存]的經(jīng)營理念；同時(shí)設(shè)有在各個(gè)領(lǐng)域多個(gè)區(qū)域的服務(wù)機(jī)構(gòu)；是三綜合試驗(yàn)箱/溫濕度振動(dòng)三綜合試驗(yàn)箱環(huán)測設(shè)備的專業(yè)制造企業(yè)。
【三綜合試驗(yàn)箱用途】
綜合環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)主要?dú)夂蛳浜驼駝?dòng)試驗(yàn)臺(tái)的綜合，對(duì)試件施加溫度、濕度、振動(dòng)應(yīng)力進(jìn)行綜合環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)。與單一因素作用相比，更真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過程中對(duì)環(huán)境變化的適應(yīng)度，產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制，樣機(jī)試驗(yàn)到產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過程的重要試驗(yàn)手段。系統(tǒng)能夠產(chǎn)生溫度、濕度、振動(dòng)的綜合環(huán)境，也可以產(chǎn)生單獨(dú)的溫度、濕度振動(dòng)等環(huán)境。
【三綜合試驗(yàn)箱臺(tái)體技術(shù)參數(shù)】
激振力:正弦3000N;隨機(jī)2400N
頻率范圍:5Hz~4000Hz可做定頻、往返掃頻、正弦波、隨機(jī)波.
掃頻方式:線性、對(duì)數(shù)、正反掃、定頻.
掃頻次數(shù):1-32767次.
掃頻時(shí)間:定頻/單次掃頻為1-3600min,并可顯示各種掃頻曲線.
大加速度:1000m/s2(100個(gè)G，空載)
大速度:1.6m/s
大位移:25mmp-p(空載.)雙峰值。
振動(dòng)部件有效質(zhì)量:動(dòng)圈重量3.0kg
大空載:120kg
振動(dòng)方向:垂直+水平
振動(dòng)波形:正弦波、隨機(jī)波、可在屏幕上觀察控制譜形、波形及信號(hào)動(dòng)態(tài)范圍
消耗功率:15KVA
DA-3功率放大器:15KVA,尺寸:W60×H170×L8CM
振動(dòng)機(jī)臺(tái)體尺寸:W75×H82×L89CM
【三綜合試驗(yàn)箱優(yōu)點(diǎn)】
雙用途設(shè)備，投資回報(bào)率高
具有靈活性，可以和現(xiàn)有的振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)一起使用
可以模擬多三種測試環(huán)境
溫變速率更快
【三綜合試驗(yàn)箱特點(diǎn)】
振動(dòng)臺(tái)隔板接口
CSZEZT-570i觸摸控制器
以太網(wǎng)監(jiān)測&控制
RS-232，RS-485串行通信接口
無霧觀察窗&內(nèi)部照明燈
【三綜合試驗(yàn)箱設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)】
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)檢定方法(溫度試驗(yàn)設(shè)備)
GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(試驗(yàn)A低溫試驗(yàn)方法)
GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(試驗(yàn)B高溫試驗(yàn)方法)
GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程(濕熱試驗(yàn)方法)
GJB150.3-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法(高溫試驗(yàn))
GJB150.4-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法(低溫試驗(yàn))
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