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湖北武漢十堰襄陽宜昌Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀

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產(chǎn)品型號(hào)Zetatrac

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更新時(shí)間：2018-05-15 14:04:57瀏覽次數(shù)：870次

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武漢頓杰測(cè)量儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品編號(hào)：
5251753016
產(chǎn)品名稱：
納米/Zeta電位分析儀
規(guī)　　格：
Zetatrac
產(chǎn)品備注：
原產(chǎn)地：美國

詳細(xì)介紹

產(chǎn) 品說明

技術(shù)參數(shù)
粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米
Zeta 電位測(cè)量：+/- 5mv
電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm
重復(fù)性：誤差小于1%（標(biāo)準(zhǔn)顆粒）
測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論
技術(shù)：HDF，CRM，F(xiàn)FT，“Ｙ"型光纖光路設(shè)計(jì)，“非球形"顆粒校正選項(xiàng)，微電場(chǎng)設(shè)計(jì)技術(shù)
檢測(cè)角度：180o
濃度范圍：0.1ppm – 40wt%
分析時(shí)間：30-120 秒
光源：3mW 780nm 半導(dǎo)體光纖
樣品體積：0.2ml
操作軟件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等
標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13321
環(huán)境溫度：10oC to 35oC
相對(duì)濕度：小于90%

主要特點(diǎn)
﹡ 的異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術(shù)，比較傳統(tǒng)的多譜勒頻
移分析方法，獲得顆粒散射信號(hào)的強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí)，提高分析結(jié)果的可靠性
﹡ 的可控參比方法(CRM, Controlled Reference Method)，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能
譜，確保分析的靈敏度
﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，避免了多重散射現(xiàn)象，保證高濃度溶液中納米顆粒測(cè)
試的準(zhǔn)確性
﹡ *的“Y型"光纖光路系統(tǒng)，精確聚焦藍(lán)寶石測(cè)量窗口，有效消除雜散光對(duì)檢測(cè)器的負(fù)面影響

﹡ 的快速傅利葉變換算法(FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method)，迅速處理檢
測(cè)系統(tǒng)獲得的光譜，縮短分析時(shí)間
﹡ 引進(jìn)“非球形"顆粒概念對(duì)米氏理論計(jì)算的校正因素，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫，提
高顆粒粒度分布測(cè)試的準(zhǔn)確性
﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析標(biāo)準(zhǔn)－納米分析部分
﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標(biāo)準(zhǔn)

儀器介紹
30多年來，Microtrac 公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的能譜概念，利用
背散射(Back-scattered)和異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術(shù)
，結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射理論和*的數(shù)學(xué)處理模型，取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜(PCS,Photon Correlation Spectroscopy)方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5μm。隨著技術(shù)的發(fā)展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業(yè)顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實(shí)，成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。
應(yīng)用領(lǐng)域：
有機(jī)聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無機(jī)物，結(jié)晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質(zhì)，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。

關(guān)鍵詞：標(biāo)準(zhǔn) 顆粒分析儀