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產品名稱:介質耗損因數試驗儀
產品型號:GDAT-A
顯示方式:液晶顯示
產品用途:絕緣材料介質耗損因數的測試
介質耗損因數試驗儀 技術特性:
1.Q 值測量范圍 2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔 2.固有誤差 ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
3.工作誤差 ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
4.電感測量范圍 4.5nH ~ 140mH
5.電容直接測量范圍 1 ~ 200pF
6.主電容調節范圍 18 ~ 220pF
7.主電容調節準確度 100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %
8.信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ~ 160MHz
9.頻率分段 ( 虛擬 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz
10.頻率指示誤差 3 × 10 -5 ± 1 個字
11.搭配了全新的介質損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用。
介質耗損因數試驗儀產品概述:
1.介質耗損因數試驗儀是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。
2.介質耗損因數試驗儀以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至低,并保留了原Q表中自動穩幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。
3.介質耗損因數試驗儀能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等。
4.介質耗損因數試驗儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
介質耗損因數試驗儀滿足標準:
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的*方法。
介質耗損因數試驗儀特點:
1.雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
2.雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
3.雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。
4.自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
5.全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
6.DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩定。
7.計算機自動修正技術和測試回路優化 —使測試回路 殘余電感減至低,** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
8.gdat高頻Q表的創新設計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,無須關注量程和換算單位。
BD916介質損耗測試裝置技術特性
1.平板電容器: 極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
電感:
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
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