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方塊電阻測試儀導體材料導電薄膜電阻檢測儀半導體薄層電阻測定儀表面電阻測量儀方塊電阻量值檢測儀

型號DL10-ST-21

DL10-ST-21型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

特點：

1采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩(wěn)定，低功耗；

2以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；

3采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；

4體積≤175mmX90mmX42mm，重量≤300g；

5特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜

6探頭帶抗靜電模塊

技術指標：

測量范圍按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：

1.方塊電阻1.00～199.99Ω/□；

2.方塊電阻10.0～1999.9Ω/□；

恒流源測量過程誤差：≤±0.8%

模數(shù)轉(zhuǎn)換器量程：0～199.99mv；

分辨率：10μv；

方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動顯示；小數(shù)點同步顯示；

測量不確定度在整個量程范圍內(nèi)，測量不確定度≤5%

四探針探頭規(guī)格間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

電源9V疊層電池1節(jié)

DL10-ST-21方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規(guī)格：

DL10-ST-21方塊電阻測試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號及規(guī)格：

型號（Model）	曲率半徑（Radius）	壓力（loads）	探針間距（spacing）	探針排列（Arrangement）
SP-601	0.5mm	100g	1.59mm	方形

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