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探針測試臺 中測臺 點測機 晶體管芯電參數測試儀 集成電路芯片電參數檢測儀
型號DL19-ST-102B
DL19-ST-102B型探針測試臺（英文叫Proberstation,中文又稱中測臺,點測機。）、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數測試及功能調試，適用于科研、新品試制及小批量生產的中間測試。
探針測試臺 中測臺 點測機 晶體管芯電參數測試儀 集成電路芯片電參數檢測儀 技 術 指 標：
工作臺面370mm*245mm
載物臺直徑4"
光學參數總放大率：21-135倍；手輪調焦范圍：60mm；升降調焦范圍：200mm；
精密旋轉臺粗調范圍：360°；微調范圍：±10°；Z小刻劃：1°；
銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm
三維探針座探針座X、Y、Z方向調節范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；
三維探針座在工作臺面可任意位置固定，由磁性開關控制；
Z多可布三維探針座6個；
探針臂伸出長度：60mm；
探針長度：40mm；
探針探針材質硬質合金，針尖曲率半徑2μm；
探針測試臺 中測臺 點測機 晶體管芯電參數測試儀 集成電路芯片電參數檢測儀
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