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超低阻雙電四探針測試儀 覆蓋膜四探針測試儀
型號：BXA57
BXA57超低阻雙電四探針測試儀
一、概述：
本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率，Z小可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業中能測量到的Z小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。
選購：本機還可以配合各類環境溫度試驗箱體使用，通過不同的測量治具滿足不同環境溫度下測量方阻和電阻率的需求.
二、超低阻雙電四探針測試儀 覆蓋膜四探針測試儀 廣泛用于：
覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試；硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻；半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等；
三、超低阻雙電四探針測試儀 覆蓋膜四探針測試儀 參數資料：
1.方塊電阻范圍：10-6～2×102Ω/□
2.電阻率范圍：10-7～2×103Ω-cm
3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100μA.
4.電流精度：±0.1%讀數
超低阻雙電四探針測試儀 覆蓋膜四探針測試儀
5.電阻精度：≤0.3%
6.顯示讀數：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率.
7.測試方式: 雙電測量
8.工作電源:輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整機不確定性誤差:≤4%（標準樣片結果）
10.選購功能: 1.pc軟件；2.方形探頭；3.直線形探頭；4.測試平臺
11.測試探頭：探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
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