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渦流涂層測厚儀，測厚儀 型號：DP-LWF-200
、概述
DP-LWF-200型采用磁性、渦流兩種測厚方法，可無損傷地檢測磁性金屬基鐵（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層的厚度（如：橡膠、油漆、塑料、陽氧化膜等）。本儀器廣泛地應用于制業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測域。是材料保護業的儀器。
1）本儀器符合以下標準
GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測量（磁性方法）
GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量（渦流方法）
JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測厚儀
2）點
便攜，手掌大小
采用速的DSP芯片，具有快速的測量能力
人性化，簡單操作。
在雙用探頭時自動識別鐵基和非鐵基材質，無需手動轉換
兩種校準方式，零點校準和二點校準
寬角度LCD液晶顯示
公制和英制單位轉換
具有電源欠電壓提示
操作過程有蜂鳴聲提示
具有自動關機功能
3)測量原理
a)磁性法
當測頭與覆層接觸時，測頭與磁性金屬基體構成閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發生變化，通過測量其變化量，可測得其覆層的厚度。
b)渦流法
利用頻交變電流線圈中產生磁場，當測頭與金屬接觸時，金屬基體上會產生渦流，并對測頭具有反饋作用，通過其反饋作用的大小可測出覆層厚度。
二、參數
● 測量范圍：0-1200um
● 工作電源：兩節五號電池
● 測量精誤差：零點校準 ±（1.5+3%H）；二點校準±【（1%～3%H）】H+1.5
● 公英制轉換：um/mil轉換
● 分辨率：0.1um/1um（100um以下為0.1um）
● 環境溫度-10-40℃
● 相對濕度≤85%
● Z小基體10*10mm
● Z小曲率凸5mm;凹5mm
● Z薄基體：0.4mm
● 重量：99克（含電池）
● 尺寸102mm*66mm*24mm
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