四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測(cè)量?jī)x   型號(hào)：DP-SB100A/2

DP-SB100A/2為原DP-SB100/1及DP-SB100A/1的改型。
 
由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測(cè)量采用四端接線法。為了滿足實(shí)際的需要，本儀器采用四探針法原理來實(shí)現(xiàn)對(duì)不同金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電分子材料的電阻及電阻率的測(cè)量。可用于校物理教育實(shí)驗(yàn)，對(duì)導(dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測(cè)試及研究。本產(chǎn)品的電阻測(cè)量范圍可達(dá)10-6—106Ω。
 
（使用環(huán)境5—40℃，相對(duì)濕度<80%，供電220V  50Hz，為實(shí)驗(yàn)室環(huán)境使用）
 
DP-SB100A/2由SB118直流電壓電流源、DP-PZ158A直流數(shù)字電壓表、DP-SB120/2四探針樣品測(cè)試平臺(tái)三部分組成。
            DP-SB118直流電壓電流源：是臺(tái)4½位的電壓源及電流源，既可輸出5µV—50V，5檔可調(diào)電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA，5檔可調(diào)電流，基本誤差為
±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產(chǎn)品DP-SB118。
            DP-PZ158A直流數(shù)字電壓表：具有6½位字長(zhǎng)，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機(jī)處理的精度電子測(cè)量?jī)x器，可測(cè)量0-1000V直流電壓。基本量程的基本誤差為±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產(chǎn)品DP-PZ158A。
            DP-SB120/2四探針樣品測(cè)試平臺(tái)：該測(cè)試平臺(tái)是DP-SB120/1測(cè)試平臺(tái)的改型。其有底座、支架、旋動(dòng)部件、樣品平臺(tái)、四探針及接線板等組成。由于其整個(gè)結(jié)構(gòu)及旋動(dòng)方式都在原DP-SB120/1的基礎(chǔ)上作了很大的改，故在校的物理實(shí)驗(yàn)及科學(xué)研究總為導(dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測(cè)試、研究提供了較大的方便。
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