x射線熒光光譜分析儀供應技術參數：
激發源 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗
電壓及功率 40 kV, 40 W
探測器 大面積正比計數器，1100 mm²感應面積
光斑尺寸 準直器交換器，0.3 mm或以上
樣品觀察 高分辨彩色攝像系統，放大倍數20-40倍
樣品臺 馬達驅動Z方向樣品臺，自動對焦。
選項：馬達驅動X-Y-Z樣品臺，自動對焦，便捷進樣功能
定量分析 塊狀樣品：基于標樣的經驗系數法模型和無標樣模型
鍍層分析：基本參數法模型
電源： 110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率100 W
尺寸（寬x深x高）550 x 700 x 430 mm
重量 46 kg
M1 MISTRAL（SDD）
激發源 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗
電壓及功率 50 kV, 50 W
探測器 電制冷高性能XFlash® 硅漂移探測器，30 mm²感應面積，對Mn-Ka能量分辨率小于150 eV
光斑尺寸 準直器交換器，0.5 mm或以上
樣品觀察 高分辨彩色攝像系統，放大倍數20-40倍
樣品臺 馬達驅動X-Y-Z樣品臺，自動對焦，便捷進樣功能。
定量分析 塊狀樣品：基于標樣的經驗系數法模型和無標樣模型
鍍層分析：基本參數法模型
電源： 110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率120 W
尺寸（寬x深x高）550 x 700 x 430 mm
重量 50 kg
x射線熒光光譜分析儀供應采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數22號（鈦）以上的所有元素。分析的樣品類型：各種不同的材料，如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品。樣品尺寸zui大可達100×100×100mm，無需任何處理，直接放在樣品臺上檢測。光管位于樣品上方，測量過程中不接觸樣品，因此可以很容易地分析復雜式樣的樣品，如精工細作的珠寶或不同厚度的樣品。
