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Surfix PBN膜厚儀，Surfix PBN膜厚計
德國PHYNIX公司制造Surfix PBN內置探頭非鐵基基本型測厚儀 膜厚儀 膜厚計
基本型,碳化鎢超耐磨測頭,特快反應速度,一體測頭
可測有色金屬基體上涂層
量程1500μm,精度±1μm+1%讀數
分辨率0.1μm.背景光
Surfix PBN膜厚儀技術參數:
| 測量范圍 | 0-1500μm,0 - 60mils |
| 誤差 | ±（1μm+1%讀數） |
| 分辨率 | 0.1μm或小于讀數的2% |
| 顯示 | 背光，字母加數字，10mm高，4位數字顯示 |
| 基體zui小面積 | 5mmX5mm |
| 基體zui小曲率 | 凸面:1.5mm 凹面:50mm |
| 基體zui小厚度 | F型：0.5mm ,N型：50μm |
| 校準 | 廠家校準，零校準，校準箔校準 |
| 數據統計（統計型） | 讀數個數（zui多9999個），平均值，標準偏差，zui大值和zui小值 |
| 數據存儲（統計型） | zui多80個測量數值,可單獨調出 |
| 數據值（統計型） | 上下限可調,聲音報警 |
| 數據接口 | 紅外通訊,IrDA標準 |
| 環境溫度/表面溫度 | 0-50℃/60℃ （可選配150℃ ） |
| 電源 | 2節1.5伏七號堿性電池 |
| 儀器尺寸 | 107X50X25mm |
| 符合標準 | DIN，ISO，ASTM，BS |
| Surfix PBN膜厚儀操作語言 | 英語、德語或法語 |
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