低溫測試箱 高低溫實驗室產(chǎn)品用途：  

    低溫測試箱 高低溫實驗室適用于國防工業(yè),工業(yè)、兵工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑膠、化工業(yè)、食品業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗（沖擊），適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組無一不需要它的理想測試工具.  

低溫測試箱 技術(shù)參數(shù)：  

1、溫度范圍：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃  

2、溫度上限：+170℃  

3、溫度下限：-70℃  

4、溫度偏差：±2℃  

5、溫度波動度：±0.5℃  

6、溫度恢復(fù)時間：5min  

7、溫度恢復(fù)條件：高溫+150℃保溫≥30min低溫-40℃保溫≥30min.  

8、試品轉(zhuǎn)移方式：采用氣動  

9、試品重量：≤3kg  

10、高溫室升溫時間：30min（+25℃～+170℃）  

11、低溫室降溫時間：65min（+25℃～-55℃）  

12、噪音：（dB）≤65  

13、電源：AC380V±10％/50/60Hz+保護接地  

低溫測試箱 現(xiàn)貨特性：  

◆產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝、選材考究，具有簡單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。  

◆設(shè)備分為高溫箱低溫箱測試箱三部分，采*之斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物*靜止，應(yīng)用冷熱風路切換方式將冷，熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。  

◆采用采用的計測裝置,控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話式LCD人機接口控制器,操作簡單,學習容易,穩(wěn)定可靠，中、英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。  

◆具96個試驗規(guī)范獨立設(shè)定,沖擊時間999小時59分鐘,循環(huán)周期1~999次可設(shè)定,可實現(xiàn)制冷機自動運轉(zhuǎn)，大程度上實現(xiàn)自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行；  

◆箱體左側(cè)具一直徑50mm之測試孔，可供外加電源負載配線測試部件。  

◆可獨立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時,可選擇三槽式及冷沖、熱沖進行沖擊之功能，具備高低溫試驗機的功能。  

◆具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動演算控制,溫度控制精度高。  

◆科學的空氣流通循環(huán)設(shè)計，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角完備的安全保護裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保證設(shè)備的*可靠性。  

◆可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動（手動）除霜.  

◆出風口于回風口感知器檢測控制，風門機構(gòu)切換時間為５秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時間為5分鐘內(nèi)完成。  

◆運轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示發(fā)生異常狀況時,螢?zāi)簧霞纯套詣语@示故障點及原因和提供排除故障的方法。  

◆冷凍系統(tǒng)采用復(fù)迭高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計，冷凍機組采用歐美*壓縮機，并采用對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保。  

小型 低溫測試箱控制方式與特色︰  

利用低溫及高溫蓄冷熱儲存槽，依動作需要打開DAPER，達到快速沖擊效果；平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)（BTC），以P.I.D.方式控制SSR，使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量，故能*穩(wěn)定使用。  

低溫測試箱滿足標準：  

1.GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件  

2.GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件  

3.GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件  

4.GB2423.1低溫試驗、試驗A  

5.GB2423.2高溫試驗、試驗B  

6.GB2423.22溫度變化試驗、試驗N  

7.IEC68-2-14試驗N  

8.國GJB150.3-86  

9.國GJB150.4-86  

10.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法  

11.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法  

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