芯片hast非飽和老化測(cè)試儀的用途

　　芯片hast非飽和老化測(cè)試儀只需幾天或幾個(gè)星期的時(shí)間，就可以再現(xiàn)在室外需要幾個(gè)月甚至幾年的時(shí)間才會(huì)發(fā)生的環(huán)境中的工況或各零件部件的老化等試驗(yàn)室損傷，其中包括褪色、顏色變化、失去光澤、粉化、破裂、裂紋、起皺、起泡、脆化、強(qiáng)度降低、氧化。其中測(cè)試結(jié)果可用于選擇新材料，改善現(xiàn)有材料，或評(píng)估材料配方的改變。

　　本設(shè)備選用UVB和UVA任選燈管。它可產(chǎn)生比通常地球表面更強(qiáng)的短波紫外線，從而使試驗(yàn)較快得出測(cè)試結(jié)果，UVB燈管試驗(yàn)對(duì)質(zhì)量控制應(yīng)用或?qū)δ途眯圆牧蠝y(cè)試會(huì)很有用。

　　用途：對(duì)手機(jī) 電工電子、汽車、摩托車配件及其他產(chǎn)品部件進(jìn)行防紫外線試驗(yàn)。

　　芯片hast非飽和老化測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)：

　　◆工作室尺寸:400×1250×700(深×寬×高)mm

　　◆外形尺寸: 450×1350×1700(深×寬×高)mm

　　◆溫度范圍: R·T+10℃~70℃

　　◆濕度范圍: 65～95%R·H

　　◆試品與燈管的中心距離: 240 mm

　　◆波長(zhǎng):295~330nm

　　◆幅照度：1000uw/cm2

　　◆光照、冷凝周期可編程控制

　　采用紫外線燈管的優(yōu)點(diǎn)：

　　◆快速得到測(cè)試結(jié)果

　　◆輻照控制簡(jiǎn)單

　　◆維護(hù)工作量小

　　◆設(shè)備廉價(jià)及運(yùn)轉(zhuǎn)費(fèi)用低

　　◆試驗(yàn)樣品輻照均勻。

　　凝露方式的優(yōu)點(diǎn)：

　　◆與自然潮濕一樣

　　◆用于加速試驗(yàn)升高溫度

　　◆使用常規(guī)自來水不需去離子處理

　　◆冷凝物為純凈水，不污染樣品

　　◆維護(hù)工作量小，沒有泵和噴頭。

　　芯片hast非飽和老化測(cè)試儀結(jié)構(gòu)及材質(zhì)：

　　◆內(nèi)膽材料：SUS304不銹鋼板

　　◆外形尺寸：SUS304不銹鋼發(fā)紋板

　　◆燈管：L=1200，40W，8支。

　　◆水源及耗量：潔凈水或蒸餾水8升/天

　　◆溫控儀：日本原裝“富士”數(shù)顯溫度控制儀

　　◆時(shí)間控制儀：計(jì)時(shí)控制儀

　　本設(shè)備符合GB/T16422.3-1997、GJB、ISO、ASTM G154等標(biāo)準(zhǔn)，是模擬由太陽光、雨水、露水引起的破壞，通過將被測(cè)材料于受控高溫下光照與水份的交變循環(huán)中，對(duì)材料進(jìn)行測(cè)試。它用紫外線燈管模擬陽光的輻射作用，用凝結(jié)水和噴水來模擬露水和雨水。

　　以上是關(guān)于艾思荔芯片hast非飽和老化測(cè)試儀的相關(guān)參數(shù)，如需了解更多關(guān)于芯片hast非飽和老化測(cè)試儀保養(yǎng)、維護(hù)、維修等信息，請(qǐng)!

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　　:——陳

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