HAST非飽和高壓加速老化試驗箱應用范圍：

　　HAST非飽和高壓加速老化試驗箱)主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。

　　HAST非飽和高壓加速老化試驗箱設備特點：

　　1. 圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象.

　　2. 圓幅內膽,不銹鋼圓弧型內膽設計,可避免蒸氣過熱直接沖擊.

　　3. 非飽和高壓加速老化試驗機水管采用銅管+喇叭口，精密設計,氣密性良好,耗水量少。

　　4. 型packing ,材質：耐高溫夕膠發泡成型，內箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式*不同,可延長packing壽命.

　　6. 實驗開始前可將原來內箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing<1micom.以確保箱內之純凈度.

　　7. 臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障提示.

　　8. 非飽和高壓加速老化試驗機機臺具有定時干燥功能 , 使試驗產品處于干燥狀態.

　　9. 水箱采用16L大容量水箱，置于箱體底部，采用自動補水功能;試驗不終斷 ; 試驗結束時設備會自動瀉除壓力.

　　HAST非飽和高壓加速老化試驗箱滿足標準：

　　1.IEC60068-2-66 2.JESD22-A102-B 3.EIAJED4701 4.EIA/JESD22

　　HAST非飽和高壓加速老化試驗箱規格參數：

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