HAST高加速壽命試驗箱應用范圍：

　　HAST高加速壽命試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。

　　HAST高加速壽命試驗箱設備特點：

　　1. PCT老化試驗箱圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象.

　　2. 圓幅內膽,不銹鋼圓弧型內膽設計,可避免蒸氣過熱直接沖擊.

　　3. 水管采用銅管+喇叭口，精密設計,氣密性良好,耗水量少。

　　4. PCT測試儀實驗開始前可將原來內箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing<1micom.以確保箱內之純凈度.

　　5. 臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障提示.

　　6. 機臺具有定時干燥功能 , 使試驗產品處于干燥狀態.

　　7. 水箱采用16L大容量水箱，置于箱體底部，采用自動補水功能;試驗不終斷 ; 試驗結束時設備會自動瀉除壓力.

　　HAST高加速壽命試驗箱滿足標準：

　　1.IEC60068-2-66 2.JESD22-A102-B 3.EIAJED4701 4.EIA/JESD22

　　♦HAST高加速壽命試驗箱規格參數：

　　型號 PCT-250 PCT-350 PCT-450 PCT-550 PCT-250M PCT-350M

　　控制器 微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器

　　分辨率 溫度：0.1壓力：指針式0.1

　　控制穩定度 溫度：±0.5℃，濕度：

　　內箱材質 SUS316#不銹鋼

　　外箱材質 鋼板烤漆或不銹鋼(依客戶選擇)

　　尺寸(cm) 內箱 Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60 Φ25×D35 Φ30×D45

　　外箱 W65×H55×D60 W70×H65×D70 W85×H75×D85 W100H90×D90 W65×H55×D60 W70×H65×D70

　　溫度范圍 110℃～132℃ 110℃～147℃

　　濕度范圍 RH飽和蒸氣

　　壓力范圍 表壓力+0.2～2.0kg/cm2 表壓力+0.2～3.5kg/cm2

　　加壓時間 大約45分鐘 大約55分鐘

　　循環方式 水蒸氣自然對流循環

　　安全保護 感溫器檢測保護，階段高溫保護，階段高壓保護，箱門壓力限制，水箱缺水報警斷電，溫度加熱器保護，濕度加濕器保護，二階段高溫保護，二階段高壓保護，三階段緊急泄壓保護，，手動泄壓保護，自動泄壓等。

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