HAST老化壽命試驗(yàn)箱用途：廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,,IC,LED,,磁鐵之產(chǎn)品密封性能的檢測(cè),測(cè)試器制品的耐壓性。

　　HAST老化壽命試驗(yàn)箱技術(shù)要求：

　　◎型號(hào)： PCT-35

　　◎內(nèi)箱尺寸(cm)：Φ300×D450

　　◎溫度范圍：110℃——132℃

　　◎濕度范圍：RH飽和蒸氣

　　◎壓力范圍：環(huán)境大氣壓+0.5— 2kg/cm2

　　◎循環(huán)方式：水蒸氣自然對(duì)流循環(huán)

　　◎控制器：微電腦飽和蒸氣溫度+時(shí)間+壓力顯示獨(dú)立控制器

　　◎解析度：溫度：0.1壓力：指針式0.1

　　◎控制穩(wěn)定度：溫度：±0.5℃,濕度：

　　◎內(nèi)箱材質(zhì)：SUS316#不銹鋼

　　◎外箱材質(zhì)：鋼板考柒

　　◎安全保護(hù)：試驗(yàn)時(shí)全程檢測(cè)超溫超壓保護(hù),階段儀表內(nèi)部超高溫保護(hù),二階段儀表內(nèi)部加濕器缺水保護(hù),高壓力保護(hù),水箱缺水報(bào)警斷電,二階段加濕管極限溫度保護(hù),二階段超高壓保護(hù),三階段緊急泄壓保護(hù),手動(dòng)泄壓保護(hù),自動(dòng)泄壓等.

　　HAST老化壽命試驗(yàn)箱特性：

　　◎?qū)嶒?yàn)過(guò)程自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)之完成結(jié)束,使用簡(jiǎn)單。

　　◎雙重過(guò)熱保護(hù)裝置,當(dāng)缸內(nèi)溫度過(guò)高時(shí)機(jī)器鳴叫報(bào)警并自動(dòng)切斷加熱電源。

　　◎LED數(shù)字型溫度控制器可做精確試驗(yàn)溫度之設(shè)定,控制及顯示。PID控制,誤差士0.1℃

　　◎LED數(shù)字型定時(shí)器,當(dāng)缸內(nèi)溫度到達(dá)后才開(kāi)始計(jì)時(shí)以確保實(shí)驗(yàn)安全。

　　◎精確地溫度壓力對(duì)照顯示。

　　◎運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動(dòng)排除未飽和蒸汽已達(dá)到蒸汽質(zhì)量。

　　◎?qū)嶒?yàn)過(guò)程中水位不足時(shí)自動(dòng)補(bǔ)充水位之功能,試驗(yàn)不中終端,確保使用安全。

　　◎缸內(nèi)安全裝置,鋼門若未關(guān)緊則及機(jī)器無(wú)法啟動(dòng)。

　　◎安全閥：當(dāng)缸內(nèi)溫度超過(guò)大值時(shí)自動(dòng)排氣泄壓。

　　◎門口保護(hù)：ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷一體成型硅膠門墊圈,氣密度良好,且使用壽命長(zhǎng)。

　　HAST老化壽命試驗(yàn)箱產(chǎn)品詳情：

　　◎加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等),加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

　　◎用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

　　◎隨著半導(dǎo)體可靠性的提高,目前大多半導(dǎo)體器件能承受*的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效,因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間,采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST)現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。注意事項(xiàng)：USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn))。

　　更多環(huán)境測(cè)試設(shè)備請(qǐng)?jiān)L問(wèn)www.gdpct.com 艾思荔(中國(guó))儀器有限公司期盼與新老客戶合作共贏!