HAST老化壽命試驗箱用途：廣泛應用于線路板,多層線路板,,IC,LED,,磁鐵之產品密封性能的檢測,測試器制品的耐壓性。

　　HAST老化壽命試驗箱技術要求：

　　◎型號： PCT-35

　　◎內箱尺寸(cm)：Φ300×D450

　　◎溫度范圍：110℃——132℃

　　◎濕度范圍：RH飽和蒸氣

　　◎壓力范圍：環境大氣壓+0.5— 2kg/cm2

　　◎循環方式：水蒸氣自然對流循環

　　◎控制器：微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器

　　◎解析度：溫度：0.1壓力：指針式0.1

　　◎控制穩定度：溫度：±0.5℃,濕度：

　　◎內箱材質：SUS316#不銹鋼

　　◎外箱材質：鋼板考柒

　　◎安全保護：試驗時全程檢測超溫超壓保護,階段儀表內部超高溫保護,二階段儀表內部加濕器缺水保護,高壓力保護,水箱缺水報警斷電,二階段加濕管極限溫度保護,二階段超高壓保護,三階段緊急泄壓保護,手動泄壓保護,自動泄壓等.

　　HAST老化壽命試驗箱特性：

　　◎實驗過程自動運轉之完成結束,使用簡單。

　　◎雙重過熱保護裝置,當缸內溫度過高時機器鳴叫報警并自動切斷加熱電源。

　　◎LED數字型溫度控制器可做精確試驗溫度之設定,控制及顯示。PID控制,誤差士0.1℃

　　◎LED數字型定時器,當缸內溫度到達后才開始計時以確保實驗安全。

　　◎精確地溫度壓力對照顯示。

　　◎運轉時流水器自動排除未飽和蒸汽已達到蒸汽質量。

　　◎實驗過程中水位不足時自動補充水位之功能,試驗不中終端,確保使用安全。

　　◎缸內安全裝置,鋼門若未關緊則及機器無法啟動。

　　◎安全閥：當缸內溫度超過大值時自動排氣泄壓。

　　◎門口保護：ABS材質制成可防止操作人員接觸燙傷一體成型硅膠門墊圈,氣密度良好,且使用壽命長。

　　HAST老化壽命試驗箱產品詳情：

　　◎加速壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。

　　◎用于調查分析何時出現電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

　　◎隨著半導體可靠性的提高,目前大多半導體器件能承受*的THB試驗而不會產生失效,因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間,采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST)現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(電工委員會)所標準化。注意事項：USPCT現在稱為HAST(高度加速應力試驗)。

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