PCT老化試驗箱滿足標準：

　　1.IEC60068-2-66 2.JESD22-A102-B 3.EIAJED4701 4.EIA/JESD22 5.GB/T 2423.40-1997

　　PCT老化試驗箱規格參數：

　　型號 HAST-250 HAST-350 HAST-250 D HAST-350 D HAST-250M HAST-350M

　　控制器 HAST-6890 型 控制器，中英文表示，具USB接口，R-232C接口.

　　分辨率 溫度：0.1 ，濕度：0.1 ，壓力：指針式0.1

　　控制穩定度 溫度：±0.5℃，濕度：±0.5

　　內箱材質 SUS316#不銹鋼

　　外箱材質 鋼板烤漆

　　尺寸(cm) 內箱 Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60 Φ25×D35 Φ30×D45

　　外箱 W56×H65×D105 W66×H105×D125 W76×H115×D135 W86×H135×D145 W56×H65×D105 W66×H105×D125

　　溫度范圍 105℃～132℃ 105℃～142.9℃ 110℃～155℃

　　氣源增壓 無外接氣源 有外接氣源 有外接氣源

　　濕度范圍 75%～RH飽和蒸氣(可調)

　　壓力范圍 表壓力+0.2～2.0kg/cm2 表壓力+0.2～3.0kg/cm2 表壓力+0.2～3.5kg/cm2

　　加壓時間 大約45分鐘 大約55分鐘

　　循環方式 風葉強制對流循環

　　PCT老化試驗箱應用范圍：

　　PCT老化試驗箱的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。

　　PCT高壓老化試驗機用于調查查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

　　PCT高壓老化試驗機隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受*的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST) 現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(電工委員會)所標準化。 注意事項：USPCT現在稱為HAST(高度加速應力試驗)。

　　安全保護 試驗時全程檢測超溫超壓保護，階段儀表內部超高溫保護，二階段儀表內部加濕器缺水保護，高壓力保護，水箱缺水報警斷電，二階段加濕管極限溫度保護，二階段超高壓保護，三階段緊急泄壓保護，手動泄壓保護，自動泄壓等。

　　pct加速老化試驗機,多項技術，艾思荔是國內為數不多的PCT老化試驗箱,pct加速老化試驗機生產廠家，訂購PCT老化試驗箱,,HAST高度加速壽命試驗機,HAST老化箱，HAST試驗箱