PCT試驗箱用途：

　　半導體的PCT測試:主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關問題。

　　PCT試驗箱的詳細信息:

　　一.選型示意：

　　◇R-HAST–350-2

　　◇R：艾思荔標志

　　◇PCT：高壓加速

　　◇350:內容積￠×D)

　　◇2:壓力范圍

　　◇2:+0.5—2kg/cm2

　　◇3:+0.5—3kg/cm2

　　二.產品規格(mm)：

　　◇型號:HAST-250工作室尺寸:Φ250×D400外形尺寸D×W×H650×560×1000

　　◇型號:HAST-300工作室尺寸:Φ300×D500外形尺寸D×W×H700×650×1100

　　◇型號:HAST-400工作室尺寸:Φ400×D600外形尺寸D×W×H800×750×1150

　　◇型號:HAST-500工作室尺寸:Φ500×D700外形尺寸D×W×H900×850×1250

　　三.產品簡單介紹：

　　◇高壓鍋,PCT高壓加速壽命試驗機,PCT高壓蒸煮儀,高壓高濕蒸煮儀,HAST非飽和型高壓加速試驗機,加速老化

　　◇壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,

　　◇縮短產品或系統的壽命試驗時間。

　　◆技術優勢：

　　◇采用全自動補充水位之功能,試驗*中斷.

　　◇試驗過程的溫度、濕度、壓力,是真正讀取相關傳感器的讀值來顯示的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的,能夠真正掌握實際的試驗過程。

　　◇干燥設計,試驗終止采用電熱干燥設計確保測試區(待測品)的干燥,確保穩定性。

　　◇精準的壓力/溫度對照顯示,*符合溫濕度壓力對照表要求。

　　艾思荔的主營產品有：PCT試驗箱,HAST高度加速壽命試驗機,可程式恒溫恒濕試驗箱、高低溫熱濕試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、高低溫試驗箱、快速溫變高低溫試驗機、冷熱沖擊試驗箱、溫度沖擊箱、鹽霧試驗機、鹽干濕復合鹽霧試驗機、老化試驗箱、高溫干燥箱、高溫烤箱、UV紫外線耐氣候試驗機、真空烤箱等可靠性環境試驗設備以及制程設備,有數十個系列近百種產品。

　　東莞市艾思荔試驗設備是一家專業從事開發、設計和生產可靠性及環境試驗設備PCT試驗箱及各類檢測儀器的公司。我們的宗旨是為客戶提供具規范要求的可靠度環境檢測設備與其相關的試驗技術。客戶產業遍及于電工電子、半導體、光電、通訊、航天、機械、實驗室、汽車…等科技產業。從產品研發到售后服務，每一個環節之間，都以客戶的觀點與需-求作為思考的出發點。