PCT高壓加速實驗（www.kcshwhs.com）：

隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受*的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST） 現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（電工委員會）所標準化。注意事項：USPCT現在稱為HAST（高度加速應力試驗）。

設計原理：工作室為圓筒狀，在工作室的底部可存水，另配置加熱管，在做試驗時把水燒成蒸汽，水因蒸發產生壓力，以達到產品試驗所要求的溫度，濕度，壓力條件。

壓力與溫度對照表：

產品特點

采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦 P.I.D 自動演算控制飽和蒸氣溫度。

采用指針顯示正負壓表；時間控制器采 LED 顯示器；自動水位控制器,水位不足時提供警示。

圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準, 可防止試驗中結露滴水設計.。

圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.。

精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續 200h。

自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,安全門把設計,箱內有大于常壓時測試門會被反壓保護。

內壓力愈大時,ASLI,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式*不同,可延長壽命。