試驗箱HAST試驗箱（www.kcshwhs.com）特性：

●速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等），加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

　　●用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

　　●隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受*的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多。

　　●為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。

　　●壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT（HAST）現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC（電工委員會）所標準化。

　　●注意事項：USPCT現(xiàn)在稱為HAST（高度加速應力試驗）

精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù) 200h 

試驗箱HAST試驗箱 結構：

1）、自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,安全門把設計,箱內(nèi)有大于常壓時測試們會被反壓保護.
2）、型packing,箱內(nèi)壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長packing壽命.
3）、實驗開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣（partical<1 micorn）.以確保箱內(nèi)之純凈度.