UV紫外線老化測(cè)試儀的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品說明  

自然界的陽光和濕氣對(duì)材料的破壞，每年造成難以估計(jì)的經(jīng)濟(jì)損失，本設(shè)備可以再現(xiàn)陽光、雨水和露水所產(chǎn)生的破壞。設(shè)備通過將待測(cè)材料曝曬放在經(jīng)過控制的陽光和濕氣的交互循環(huán)中，同時(shí)提高溫度的方式來進(jìn)行試驗(yàn)。設(shè)備采用紫外線熒光燈模擬陽光，同時(shí)還可以通過冷凝或噴淋的方式模擬濕氣影響。  

只需要幾天或幾周時(shí)間，設(shè)備可以再現(xiàn)戶外需要數(shù)月或數(shù)年所產(chǎn)生的破壞。所造成的損害主要包括退色、變色、亮度下降、粉化、龜裂、變模糊、脆化、強(qiáng)度下降及氧化。設(shè)備提供的測(cè)試數(shù)據(jù)在對(duì)新材料的選擇、對(duì)現(xiàn)有材料的改進(jìn)或評(píng)估影響產(chǎn)品耐用性的組成變化等方面有*的幫助。設(shè)備可以*地預(yù)測(cè)產(chǎn)品將在戶外遭遇的變化。  

紫外線（UV）與陽光的模擬  

盡管紫外光（UV）只占陽光的5％，但是它卻是造成戶外產(chǎn)品耐用性下降的主要光照因素。這是因?yàn)殛柟獾墓饣瘜W(xué)反應(yīng)影響隨著波長(zhǎng)的減少而增加。因此在模擬陽光對(duì)材料物理性質(zhì)的破壞影響時(shí)，不需要再現(xiàn)整個(gè)陽光光譜。在大多數(shù)情況下，只需要模擬短波的UV光即可。  

紫外光加速耐候試驗(yàn)機(jī)之所以采用UV燈的原因在于它們比其他的燈管更為穩(wěn)定，并且能更好的再現(xiàn)試驗(yàn)結(jié)果。采用熒光UV燈模擬陽光對(duì)物理性質(zhì)的影響，例如亮度下降、龜裂、剝落等方面，是好的方法。有幾種不同的UV燈可供選擇。大多數(shù)的這些UV燈主要產(chǎn)生紫外光，而不是可見光和紅外光。燈的主要差別體現(xiàn)在它們?cè)诟髯圆ㄩL(zhǎng)范圍內(nèi)產(chǎn)生的UV總能量上的不同。不同的燈會(huì)產(chǎn)生不同的測(cè)試結(jié)果。實(shí)際的曝曬應(yīng)用環(huán)境可以提示應(yīng)選用哪種類型的UV燈。  

熒光燈的優(yōu)點(diǎn)在于：快速獲得試驗(yàn)結(jié)果；簡(jiǎn)化的光照度控制；穩(wěn)定的光譜；只需很少的維護(hù)；價(jià)格便宜，運(yùn)行費(fèi)用合理。  

UVA-340，模擬陽光紫外線的選擇  

UVA-340可*地模擬臨界短波波長(zhǎng)范圍的陽光光譜，即波長(zhǎng)范圍為295-360nm的光譜，UVA-340只產(chǎn)生在陽光中能找到的UV波長(zhǎng)的光譜。  

臺(tái)式對(duì)紫外線老化試驗(yàn)箱的測(cè)試要求

UV紫外線老化測(cè)試儀試驗(yàn)要求：  

a.整個(gè)測(cè)試過程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器  

b.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性  

c.整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度，并監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效（測(cè)試過程中無間歇開路或接地失效）。  

d.絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求  

IEC61646-10.13濕熱測(cè)試（Dampheat）  

目的：欲測(cè)試模塊抵抗?jié)駳?滲透之影響能力  

試驗(yàn)要求：絕緣電阻需符合如初步量測(cè)之相同要求  

IEC61646-10.14引線端強(qiáng)度測(cè)試（Robustnessofterminations）  

目的：欲測(cè)定引線端與引線端至模塊本體上之附著是否能承受正常安裝及操作過程中所受之力。  

IEC61646-10.15扭曲測(cè)試（TwistTest）  

目的：檢測(cè)模塊安裝于非結(jié)構(gòu)上可能造成的問題  

IEC61646-10.16機(jī)械負(fù)荷測(cè)試（Mechanicalloadtest）  

目的：本測(cè)試之目的是測(cè)定模塊抵抗風(fēng)、雪、冰或靜負(fù)荷之能力  

IEC61646-10.17冰雹測(cè)試（Hailtest）  

目的：欲驗(yàn)證模塊有抵抗冰雹之沖擊能力  

IEC61646-10.18光測(cè)試（Lightsoaking）  

目的：通過仿真太陽照射之方法，穩(wěn)定薄膜模塊之電性能  

IEC61646-10.19退火測(cè)試（Annealing）  

目的：在驗(yàn)證測(cè)試前，將薄膜模塊退火，如不退火，在后續(xù)程序測(cè)試過程中之加熱可能掩蓋其它原因引起之衰減。  

IEC61646-10.20濕漏電流測(cè)試（Wetleakagecurrent）  

目的：評(píng)估模塊在濕操作條件下之絕緣性，并驗(yàn)證由雨、霧、露水或融化之雪水之濕氣不會(huì)進(jìn)入模塊電路之帶電部位，否則這可能會(huì)造成腐蝕、接地故障或安全上之危險(xiǎn)。  

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