高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)；特別適用于光纖、LCD、晶體、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。　　

　　高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

　　設(shè)備型號：HL-80

　　溫度范圍：-70℃～+100℃

　　溫度偏差：≤±2.0℃

　　溫度波動度：≤±0.5℃

　　升溫時間：2~3℃/min（設(shè)備空載時）

　　降溫時間：0.7~1℃/min（設(shè)備空載時）

　　工作室尺寸（深×寬×高）：400*400*500mm

　　外型尺寸（深×寬×高）：950*950*1360mm

   高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn):

　　低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB10589-2006

　　高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB10592-2006

　　高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件:GB11158-2006

　　低溫試驗(yàn)方法A:GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)

　　高溫試驗(yàn)方法B:GB2423.2-2001(IEC68-2-2)

　　高低溫交變試驗(yàn)（僅濕熱型）:GB/T2423.4-1993

　　高溫試驗(yàn)方法:GJBl50.3-86(MIL-STD-810D)

　　低溫試驗(yàn)方法:GJBl50.4-86(MIL-STD-810D)

　　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備:GB/T5170.2-1996

產(chǎn)品簡介：

      高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高、低溫的可靠性試驗(yàn)。對電子電工、汽車摩托、航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。