半導體恒溫恒濕試驗箱的測試功能：

　　恒溫恒濕試驗箱用途:恒溫恒濕試驗箱可以準確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕復雜的自然狀環境，適用于塑膠、電子、LED節能燈，醫療產品、電容、電阻、各類材料、汽車配件、金屬、化學、建材等多種行業的恒溫恒濕試驗箱產品可靠性檢測，多樣化的規格，可根據您的要求非標定做！

半導體恒溫恒濕試驗箱設備性能：

　　1.內尺寸450*400*350mm（W*H*D）

　　2.外尺寸（約）700*750*600mm（W*H*D）

　　3.溫度范圍-40℃~150℃（氣冷式）

　　4.濕度范圍20%～98%RH（可程式）

　　5.降溫速率20℃～-40℃/50min（空載下）

　　6.升溫速率0℃～+100℃/30min（空載下）

　　7.溫度穩定度±0.5℃

　　8.濕度穩定度±2.5%RH

　　9.溫度偏差±2.0℃

　　10.濕度偏差±2.5%RH

　　根據市場信息與豐富的研發經驗，我們用心設計

　半導體恒溫恒濕試驗箱結構設計：

　　1.內外箱材質測試區內箱不銹鋼板（SUS#304），不銹鋼。

　　2.外箱燈源高亮度照明燈

　　3.同溫層結構設計有效避免箱體部凝結之技術（）,

　　4.觀測視窗觀察試品使用（W*L28*35cm）,

　　5.窗口防汗設計采電熱器裝置，防止水氣凝結（40W）,

　　6.測試孔可外接測試電源線及信號用（5.0cm）,

　　7.機臺滑輪采滑輪移動調整擺放位置與強力螺栓固定位置（200Kg/輪）,

　　8.保溫層保溫絕緣層耐燃防火PU＋隔熱玻璃棉（保溫層厚10.0cm）,

　　9.箱內盤架可活動調整柵盤架與不銹鋼條狀柵盤二只（盤架每間格5.0cm）.

　　10.箱門采雙道隔熱氣密迫緊,有效隔絕外部溫度泄漏.

　半導體恒溫恒濕試驗箱滿足試驗標準：

　　GB/T2423.1-2001試驗A：低溫試驗方法

　　GB/T2423.2-2001試驗B：高溫試驗方法

　　GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法試驗Na

　　GJB150.3-1986高溫試驗

　　GJB150.4-1986低溫試驗

　　GJB150.5-1986溫度沖擊試驗

　　（負載參見5.5.6，無有源熱負載）

　　主要生產產品：液壓振動臺,PCT高壓加速老化試驗機,振動試驗臺,紫外線老化試驗箱,中頻振動,鹽霧試驗箱,恒溫恒濕箱,氙燈老化試驗箱,高低溫低氣壓試驗機,高低溫濕熱循 儀器試儀,熱真空試驗設備,紫外光試驗箱,快速溫度變化試驗箱等更多非標測試儀器撥訂購

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