電子高溫恒溫試驗箱概述：

  本系列設(shè)備適用于電工電子產(chǎn)品、航天產(chǎn)品及各類氣象產(chǎn)品及其零部件、材料進行低溫低氣壓、高溫低氣壓及室溫低氣壓試驗。

工作尺寸：Φ80×80cm

溫度范圍：常溫、-10℃、-20℃、-30℃、-40℃~80℃ 

壓力范圍：200Pa~1.01×105 Pa（或≥1.01×105 Pa） 

漏氣率：≤1Pa/min（平均） 

升降溫速率：升溫1~3℃/min、降溫≥0.5℃/min （平均） 

溫濕度控制：日本理化、神港、富士  

制冷機組：原裝“泰康”、“谷輪”、“都靈”壓縮機（組） 

冷卻方式：風(fēng)冷、水冷 

內(nèi)膽材質(zhì)：不銹鋼板 

保溫材質(zhì)：超細玻璃保溫棉、聚氨脂 

標準配置：不銹鋼樣品架 

電子高溫恒溫試驗箱目的：通過高低溫低氣壓試驗箱進行的理論研究和在性能測試平臺的基礎(chǔ)上進行的調(diào)整該造，可解決該試驗箱存在的技術(shù)難題，提高該試驗箱的技術(shù)發(fā)展水平。

電子高溫恒溫試驗箱意義：通過低氣壓老化箱進行的技術(shù)研究，將可以滿足端技術(shù)如宇航、電子、兵器等的發(fā)展對該試驗箱的需求。開展對該試驗箱的研制，可以*國內(nèi)對該產(chǎn)品的空白，擴大公司對此種試驗箱的應(yīng)用市場，同時縮短國內(nèi)在該領(lǐng)域與國外的差距，盡早實現(xiàn)低氣壓老化箱的工業(yè)化生產(chǎn)。

電子高溫恒溫試驗箱是測檢產(chǎn)品在高溫、低溫與低氣壓的環(huán)境下變化后參數(shù)的及性能。目前有關(guān)低氣壓試驗箱的低氣壓試驗的標準有：

  GB2421-1989《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則》

  GB2423.21-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法》

  GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》

  GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》

  GB2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法》

  GB/T2424.15-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則》

  GJB150.2-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法低氣壓（高度）試驗》

  在GB/T2424.15-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則》中主要對溫度、低氣壓的適用范圍，綜合影響試驗設(shè)備等進行了闡述。

  而在GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》中對試驗方法，嚴酷等級、試驗?zāi)康模瑮l件試驗進行了具體規(guī)范。

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