燈具燈飾三箱式冷熱沖擊試驗機|半導體材料換氣老化試驗機

變測試箱.用于電子電器零部件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業，國防工業、兵工業、航天、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導陶磁及高分子材料之物理性變化，測試其材料對高、低溫的抵抗力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質。從精密的IC到重工機械零部件，無一不需要它的測試

特點:

水平(或垂直)送風系統,大風量循環設計,保證被測試產品表面溫度均勻.

高效的壓縮機及制冷配件,采用單級或復疊式制冷系統.

內外箱材料：SUS304不銹鋼 

主要技術規格:

內箱容積: 500L ;  800L;  1000L; 1200L (特殊尺寸可根據客戶要求定制）

溫度范圍：-10℃ 至 100℃; -40℃ 至 150℃

溫度變化速度：≥3℃/min；≥5℃/min；≥10℃/min；≥15℃/min (帶載測試)

溫度均勻度：≤2℃

溫度偏差：≤±2℃

燈具燈飾三箱式冷熱沖擊試驗機|半導體材料換氣老化試驗機

試驗標準：

GB 10586—濕熱試驗箱技術條件。

GB 10589—低溫試驗箱技術條件。

GB 10592—高、低溫試驗箱技術條件。

GB 11158—高溫試驗箱技術條件。

GB/2423.1—2001試驗A：低溫試驗方法。

GB/2423.2—2001試驗B：高溫試驗方法。

GB/2423.3—1993試驗Ca：恒定濕熱試驗方法。

GJB150.3—1986高溫試驗方法。

GJB150.4—1986低溫試驗方法。

GJB150.6—1986濕熱試驗方法。

GB/T5170.2—溫度試驗設備檢定方法。

GB/T5170.5—溫熱試驗設備檢定方法。

GB/T5170.18—溫度/濕度組合循環試驗設備檢定方

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