采用美國(guó)Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行
塑料紫外線老化測(cè)試機(jī),電子元件紫外加速老化試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品特點(diǎn):◆可仿真產(chǎn)品在實(shí)際環(huán)境中溫度、振動(dòng)的試驗(yàn)
◆也可獨(dú)立完成溫度循環(huán)、儲(chǔ)存試驗(yàn)
◆可擴(kuò)充: LN2V 液態(tài)氮快速降溫控制裝置 ,LHC 低濕感知器與可再生除濕器裝置
◆采用美國(guó)Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行
◆防止測(cè)試品不結(jié)露控制條件
◆通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存下載功能
◆機(jī)臺(tái)多處報(bào)警監(jiān)測(cè),配置無線遠(yuǎn)程報(bào)警功能
塑料紫外線老化測(cè)試機(jī),電子元件紫外加速老化試驗(yàn)機(jī)主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過檢測(cè),來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
塑料紫外線老化測(cè)試機(jī),電子元件紫外加速老化試驗(yàn)機(jī)現(xiàn)場(chǎng)條件:
1.溫度:15℃~35℃
2.相對(duì)濕度:不大于85%RH
3.周圍無強(qiáng)烈振動(dòng)、無強(qiáng)烈電磁場(chǎng)影響
4.周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
5.無陽光直接照射或其它熱源直接輻射
6.周圍無強(qiáng)烈氣流,當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制流時(shí),氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。
7.試驗(yàn)箱應(yīng)放置平穩(wěn),保持水平。
8.試驗(yàn)箱的四周應(yīng)留有一定的距離,方便維修操作。
9.安裝場(chǎng)地通風(fēng)良好
10.良好接地
塑料紫外線老化測(cè)試機(jī),電子元件紫外加速老化試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn):
GB 10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵詞:電子元件紫外加速老化試驗(yàn)機(jī),DIN可程式桌上型恒溫恒濕,趙縣箱式淋雨試驗(yàn)箱,蕪湖HAST非飽和高度加速老化試驗(yàn)機(jī),高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱的作用