IC半導體高低溫交變濕熱試驗儀 冷熱沖擊試驗儀新報價 連接器高低溫交變濕熱試驗室符合標準：

　　1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件

　　2.GB/T11158-1989高溫試驗箱技術條件

　　3.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術條件

　　4.GB/T2423.1-2001IEC60068-2-1試驗A規程:低溫試驗方法

　　5.GB/T2423.2-1989IEC60068-2-2試驗B規程:高溫試驗方法

　　6.GB/T2423.22-1987試驗Nb溫度變化試驗方法

　　7.GJB150.3-1986高溫試驗

　　8.GJB150.4-1986低溫試驗

9.IEC68-2-14試驗N

IC半導體高低溫交變濕熱試驗儀 冷熱沖擊試驗儀新報價 連接器高低溫交變濕熱試驗室鈑金結構：

　　1.箱體采用數控機床加工成型，造型美觀大方、新穎并采用無反作用把手，操作簡便。

　　2.箱體內膽采用進口不銹鋼（SUS304）鏡面板或304B氬弧焊制作而成，箱體外膽采用A3鋼板噴塑。

　　3.采用微電腦溫度濕度控制器，控溫控濕精確可靠。

　　4.大型觀測視窗附照明燈保持箱內明亮，且采用多層玻璃，隨時清晰的觀測箱內狀況。

　　5.設有獨立限溫報警系統，超過限制溫度即自動中斷，保證實驗安全運行不發生意外。

　　6.可選配記錄儀，打印機能打印記錄設定參數和掃描出溫濕度變化曲線，4～20mA標準信號。

　　7.箱體左側配一直徑50mm的測試孔。

IC半導體高低溫交變濕熱試驗儀 冷熱沖擊試驗儀新報價 連接器高低溫交變濕熱試驗室技術參數：

　　溫度控制范圍：-120℃~ 150℃（選購項）（常規：-40℃~ 150℃）

　　溫度解釋度:0.01℃

　　波動度：±0.5℃；

　　溫度偏差：≤±2℃；

　　濕度范圍：5%~98%R.H（選購項）（常規：30%~98%R.H）；

　　濕度解釋度:0.1%R.H；

　　濕度偏差：≤±2.5%R.H；

　　降溫速率：0.7~1.0℃/min；

　　升溫速率：2.0~3.0℃/min；

　　控制系統：TEMI880彩色液晶觸摸屏溫濕度程式控制系統

　　安裝電源：380V±5%；50Hz；3P N G（三相五線制）（可訂制220V供給電源）。

　　箱體材料：內工作室均采用SUS304不銹鋼板材，外箱采用SUS304不銹鋼板材或A3鋼板靜電噴涂（烤漆）；

　　制冷系統：采用低噪音的法國“泰康”壓縮機，使用自主研發的蒸發器、冷凝器，配備日本鷺宮電磁閥，實現高效、節能、穩定的制冷效果；

　　主要電器：施耐德、西門子交流接觸器，施耐德自鎖開關，ABB漏電開關；

　　安全保護：缺相保護、超溫保護、超壓保護（壓縮機）、缺水保護、漏電保護、加濕器干燒保護、水電分離保護。

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