電子元件冷熱沖擊試驗房參數(shù)：

一、高低溫區(qū)溫度范圍：高溫區(qū)部分： 80℃至 200℃ 低溫區(qū)部分：-10℃至-55℃。

二、溫度測試范圍：高 溫： 60℃至 150℃。低 溫：0℃至-40℃。

三、控制精度： （-）2℃。

四、解析精度：0.01℃。

五、高溫區(qū)升溫時間：自常溫至150℃，約60分鐘。

六、低溫區(qū)降溫時間：自常溫至 -40℃，約80分鐘。

七、冷熱沖擊試驗箱測試區(qū)溫度恢復(fù)時間：3-5分鐘。

電子元件冷熱沖擊試驗房特點：

1.采原裝歐美進品高效率壓縮機。

2.配有自動及手動除霜回路。

3.斜率式fin—tube蒸發(fā)器，可迅速達到低溫效果。

4.*日制電磁閥、干燥過濾器等冷凍組件。

5.內(nèi)螺旋式k—type冷媒銅管。

6.高速電熱管。

7.采用氣冷式冷凝器，或因現(xiàn)場環(huán)境因素用水冷式冷凝器。8.采用環(huán)保冷媒。9.其它附件修理閥，電子自動轉(zhuǎn)換膨脹閥及電磁開關(guān)等。

電子元件冷熱沖擊試驗房：

采用彩色中文LCD觸控式圖控操作介面,操作簡易。

設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，各區(qū)之箱體采*之斷熱結(jié)構(gòu)。

沖擊方式應(yīng)用風(fēng)格切換方式將溫度導(dǎo)入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。

高溫沖擊或低溫沖擊時，大時間可達9999分鐘，大循環(huán)周期可達9999次。

系統(tǒng)可作自動循環(huán)沖擊或手動選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。

冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。

電子元件冷熱沖擊試驗房 環(huán)氧玻璃纖維板振動試驗臺 

更多模擬環(huán)境測試設(shè)備請登陸：http://.ybzhan./st45714 .gdwcjx.

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